11.08.2013 Views

Наноструктурированные термоэлектрические материалы

Наноструктурированные термоэлектрические материалы

Наноструктурированные термоэлектрические материалы

SHOW MORE
SHOW LESS

Create successful ePaper yourself

Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.

<strong>Наноструктурированные</strong><br />

<strong>термоэлектрические</strong><br />

<strong>материалы</strong><br />

Москва, 23 марта 2010<br />

А.В. Шевельков<br />

Химический факультет МГУ имени М.В. Ломоносова


Термоэлектрические<br />

“Каменный век закончился не потому, что закончились камни,<br />

нефтяная эра не должна закончиться потому, что закончилась нефть.”<br />

Дон<br />

TW<br />

4<br />

3<br />

2<br />

1<br />

0<br />

Хубертс, CEO, Shell Hydrogen<br />

нефть<br />

уголь<br />

Глобальное<br />

газ<br />

1TW = 10 12<br />

биомасса<br />

<strong>материалы</strong><br />

атом<br />

W<br />

гидро<br />

возобновляемая<br />

–<br />

зачем?<br />

потребление энергии: 2000 год 13 TW<br />

2050 год 30 TW<br />

Бахрейн<br />

~ 2.2 %


В<br />

Термоэлектрические<br />

Цена за кВт-час, ¢<br />

2005 году<br />

~<br />

25<br />

20<br />

15<br />

10<br />

5<br />

0<br />

уголь<br />

Какова<br />

гидро<br />

80% энергии<br />

газ<br />

<strong>материалы</strong><br />

цена<br />

ветер<br />

получено<br />

вопроса?<br />

атом<br />

нефть<br />

солнце<br />

–<br />

зачем?<br />

Задача – разработка новых «материалов для энергии»:<br />

Производство, превращение и хранение энергии<br />

от<br />

сгорания<br />

ископаемого топлива


Термоэлектрические<br />

Добротность:<br />

ZT = TS2 /κρ<br />

T – абсолютная температура,<br />

S – коэффициент Зеебека,<br />

κ – теплопроводность,<br />

ρ – электрическое сопротивление<br />

<strong>материалы</strong><br />

Современные<br />

–<br />

принципы<br />

<strong>материалы</strong>:<br />

На основе Bi2Te3 с добавлением<br />

Ge, Sb, Pb, I, …<br />

ZT<br />

≈<br />

0.9<br />

при<br />

Легированные<br />

ZT<br />

≈<br />

0.6 при<br />

300 К<br />

сплавы<br />

1000 К<br />

Si/Ge


Ассемблирование


Устройства<br />

Tellurex<br />

®


1,8<br />

1,5<br />

1,2<br />

0,9<br />

0,6<br />

0,3<br />

0,0<br />

Коммерческие<br />

Bi2Te3 PbTe<br />

<strong>материалы</strong><br />

Si/Ge<br />

250 500 750 1000 1250<br />

Современные сферы применения:<br />

1. Охладители для ИК-детекторов, ПК-процессоров, переносных холодильников<br />

2. Генераторы для маломощных источников тока


ZT<br />

1.8<br />

1.5<br />

1.2<br />

0.9<br />

0.6<br />

0.3<br />

0.0<br />

Перспективные<br />

Bi2Te3 <strong>материалы</strong><br />

0 250 500 750 1000 1250<br />

Low-T<br />

AgPb18SbTe20 Temperature, K<br />

Mid-T<br />

Zn4Sb3 PbTe<br />

Yb0.19Fe4Sb12 CeFe3CoSb12 Mo3Sb5.5Te1.5 High-T<br />

Yb14MnSb11 Si/Ge<br />

Mo3Sb5.4Te1.6


Генерация<br />

мощности<br />

TE elements<br />

Power for<br />

electronic<br />

equipment<br />

Требования:<br />

1. ZT ≈ 1 при T = 150-250oC 2. Длительная стабильность, сравнимая с временем жизни автомобиля


Генерация<br />

Термоэлектрический радиатор<br />

мощности<br />

TE elements<br />

Термоэлектрический<br />

Power for<br />

electronic<br />

equipment<br />

генератор


Прямое<br />

преобразование<br />

солнечного<br />

тепла<br />

Требования:<br />

1. ZT ≈ 1 при T > 500oC 2. Химическая и термическая устойчивость при T > 500oC 3. Экологическая безопасность<br />

4. Лёгкость изготовления, низкая стоимость


Сверхпроводниковая<br />

электроника<br />

Solid-state cooling down<br />

below Tc of a SC material<br />

Требования (ориентировочные):<br />

1. ZT ≈ 0.7 при T < −150oC 2. Низкая теплопроводность ~0.5 Вт/(м⋅К)<br />

3. Малые значения КТР


Проблемы: теплопроводность<br />

Материал Теплопроводность, Вт/м К<br />

Р<br />

I 2<br />

(белый) 0.24<br />

Eu8Ga16Ge30 (стекло)<br />

SiO 2<br />

0.45<br />

0.8<br />

1.38<br />

Bi2Te3 1.45<br />

B 2.76<br />

Mn 7.82<br />

SiO 2<br />

Р<br />

(кристалл) 10.4<br />

(черный) 12.1<br />

Al2O3 36.0<br />

Ge 59.9<br />

MgO 60<br />

Cu 398<br />

C (алмаз) 2310<br />

Диапазон значений<br />

для ТМ<br />

Обычно:<br />

1. Металл хороший<br />

проводник тепла<br />

и носителей заряда<br />

2. Диэлектрик плохой<br />

проводник носителей<br />

заряда<br />

κ<br />

= κ l + κ e


Проблемы: носители<br />

J. Snyder, California Institute of Technology, 2010<br />

заряда


Для<br />

повышения<br />

1.<br />

2.<br />

3.<br />

4.<br />

Зачем<br />

Наночастицы<br />

нужно<br />

«нано»?<br />

термоэлектрической<br />

Сверхрешетки<br />

и<br />

Нанокомпозиты<br />

наноструктуры<br />

<strong>Наноструктурированные</strong><br />

добротности!<br />

вещества


Принципы<br />

Наночастицы<br />

действия:<br />

и<br />

наноструктуры<br />

1. Увеличение плотности состояния вблизи<br />

увеличение S при снижении σ<br />

2. Увеличение числа границ раздела и уменьшение размера частиц ⇒<br />

снижение κ при неизменных S и σ<br />

Проблема:<br />

не<br />

удается<br />

существенно<br />

E F<br />

повысить ZT<br />


Наилучшие<br />

значения<br />

Сверхрешетки<br />

ZT<br />

среди<br />

… но: результаты<br />

всех<br />

известных<br />

не воспроизводятся<br />

материалов…


А. Сферические<br />

Нанокомпозиты<br />

Стандартные<br />

частицы<br />

Б. Ориентированные<br />

В. Произвольно<br />

классические<br />

нанокомпозиты: наночастицы<br />

наностержни<br />

расположенные<br />

Увеличение<br />

наностержни<br />

ZT известных<br />

материалов<br />

в<br />

матрице<br />

Снижение теплопроводности<br />

за счет увеличения числа<br />

границ раздела<br />

на 5-15%


Нанокомпозиты<br />

Ассоциация Ag + и Sb3+ -<br />

движущая сила образования<br />

наноструктуры<br />

Композитные<br />

нового<br />

типа<br />

соединения<br />

AgPbmSbTem+2 системы<br />

T, K<br />

M. Kanatzidis, Northwestern University<br />

LAST-m:


Нанокомпозиты<br />

нового<br />

типа<br />

LAST-m: AgPbmSbTem+2 LASTT-m: Ag(Pb1-xSnx) mSbTem+2<br />

SALT-m: Na1-xPbmSbTe2+m


Фононное<br />

Наноструктурирование<br />

стекло<br />

Вещества, которые<br />

электричество<br />

атепло–<br />

плохо, как<br />

–<br />

электронный<br />

могут<br />

хорошо, как<br />

стекло<br />

проводить<br />

–<br />

кристалл<br />

кристаллический<br />

ввиду<br />

концепция<br />

(ФСЭК):<br />

проводник,<br />

пространственного<br />

разделения<br />

ФСЭК<br />

Независимая оптимизация<br />

транспорта носителей заряда и<br />

теплопроводности<br />

Новый термин:<br />

«фононная инженерия»<br />

подструктур


Несоразмерные<br />

H. Ohta, Nagoya University<br />

сложные<br />

Наноблочные структуры<br />

оксиды<br />

Со


1.<br />

2.<br />

3.<br />

4.<br />

Несоразмерные<br />

Основные<br />

Понижение<br />

H. Ohta, Nagoya University<br />

Наноблочные<br />

преимущества:<br />

теплопроводности<br />

сложные<br />

структуры<br />

за<br />

счет<br />

оксиды<br />

Со<br />

несоразмерности<br />

Возможность управления свойствами путём направленного<br />

чередования блоков, отвечающих за высокую<br />

электропроводность, иблоков, определяющих низкую<br />

теплопроводность<br />

Высокое значение термоэдс определяется электронными<br />

корреляциями и валентными флуктуацями (Со3+ /Со4+ )<br />

Устойчивость<br />

к<br />

деградации<br />

на воздухе


Несоразмерные<br />

сложные<br />

Богатые<br />

I. Terasaki, Waseda University<br />

Легкость<br />

Лучшие<br />

оксиды<br />

структурные<br />

воздействия<br />

значения<br />

ZT ≈<br />

Со<br />

возможности<br />

на<br />

свойства<br />

1.1 (950 K)


Несоразмерные<br />

сложные<br />

I. Terasaki, Waseda University<br />

оксиды<br />

a, Nax b, Nax c, Ca3 d, Bi2 e, PbTe<br />

f, Si/Ge<br />

Со<br />

CoO2 CoO2 Co4O9 Sr2Co2Oy (x≈0.6), crystal<br />

, ceramic<br />

, crystal<br />

, crystal


Другие<br />

наноблочные<br />

структуры: Sn3P4


ZT = 0.008<br />

(300 K)<br />

Другие<br />

наноблочные<br />

структуры: Sn3P4 R-3m, a = 4.4315(1), c = 28.393(1) Å


Наполненные<br />

AM4E12 Основное свойство для ТМ:<br />

Колебания гостевого атома в<br />

наноклетках, вызывающее<br />

рассеивание фононов, несущих тепло<br />

E<br />

A<br />

скуттерудиты<br />

M<br />

Название по минералу<br />

«скуттерудит» CoAs3 Химический<br />

состав:<br />

A = Na, K, Ca, Sr, Ba, Ln, In, Sn<br />

M = Fe, Ru, Os, Co, Rh, Ir, Ni, Pd, Pt<br />

E = Ge, P, As, Sb, S, Se, Te<br />

Пр.гр. Im-3, a ~ 9 Å


Наполненные<br />

a, Yb0.19 b, Ca0.18 c, Ba0.30 d, Ce0.9 e, CoAs3 Co4Sb12 Co4Sb12 Co4Sb12 FeCo3Sb12 M. Kanatzidis,<br />

Northwestern University<br />

скуттерудиты


<strong>Наноструктурированные</strong><br />

6.4Cl2(H2O) 46<br />

Пр.гр.<br />

Каркас<br />

Атомы<br />

Pm3-n<br />

клатраты<br />

(# 223), a<br />

«хозяина»:<br />

гостя:<br />

К.Ч. = 4 для<br />

К.Ч. = 20 для<br />

Общая<br />

Заряд:<br />

Анионные<br />

6d, 2a<br />

всех<br />

≈<br />

10 Å<br />

24k, 16i, 6c<br />

атомов<br />

каркаса<br />

2a, К.Ч. = 24 для<br />

формула: G8E46 и<br />

катионные<br />

Na8Si46 6d<br />

клатраты<br />

Наноструктура:<br />

Колебания атомов гостя в<br />

наноразмерных клетках каркаса


Структурные<br />

типы<br />

Типы I – IV имеют аналогов среди клатратов-гидратов<br />

Типы VIII, IX известны только с элементами 14 группы


Химические<br />

элементы<br />

в<br />

клатратах<br />

В составе клатратного каркаса Гостевые атомы<br />

Не участвуют в образовании клатратов


[Sn 20 Zn 4 P 20.8 ]I 8<br />

[Sn 17 Zn 7 P 22 ]I 8<br />

[Sn 17 Zn 7 P 22 ]Br 8<br />

[Sn 17 Zn 7 As 22 ]I 8<br />

[Sn 19.3 Cu 4.7 P 22 ]I 8<br />

[Sn 19.3 Cu 4.7 As 22 ]I 8<br />

[Sn 17.6 Cu 6.4 As 22 ]I 8<br />

[Sn 19.3 Cu 4.7 As 22 ]Br 8<br />

Катионные<br />

Cu Zn<br />

[Sn 17 Cd 7 P 22 ]I 8<br />

[Sn 17 Cd 7 P 22 ]Br 8<br />

клатраты: обзор<br />

[Sn 20 Ga 4 P 20 ]I 8<br />

[Sn 10 Ga 14 As 22 ]I 8<br />

Ga<br />

Cd In<br />

Al Si<br />

[Sn 10 In 14 P 22 ]I 8<br />

[Sn 14 In 10 P 21.2 ]I 8<br />

[Sn 12 In 12 P 21.6 ]Br 8<br />

[Sn 24-x In x P 22-d ]I 8<br />

[Sn 19 Al 5 As 22 ]I 8<br />

Ge<br />

Sn<br />

[Sn 24 P 19.3 ]I 8<br />

[Sn 24 P 19.5 ]Br 8<br />

[Sn 20.5 As 22 ]I 8<br />

[Si 40 P 6 ]I 6.5<br />

[Si 44.5 I 1.5 ]I 8<br />

[Si 46-2x P 2x ]Te x<br />

[Si 130 P 42 ]Te 21.5<br />

[Ge 46–x Te x ]I 8<br />

[Ge 46–x Te x ]Br 8<br />

[Ge 38 Z 8 ]X 8<br />

[Ge 43.33 I 2.67 ]I 8<br />

[Ge 30+x P 16-x ]Te 8-y<br />

[Ge 79 P 29 S 18 ]Te 6


Sn-клатраты: кристаллическая<br />

Идеальная структура клатрата-I<br />

Sn10In14P22I8 24k: только атомы 4b-Sn<br />

6c: атомы 4b-P<br />

24k<br />

6c<br />

24k’<br />

24k’<br />

24k’’<br />

6c<br />

24k”<br />

Вакансионная<br />

структура<br />

Sn24P19.3I8 структура<br />

24k’: атомы 4b-Sn<br />

24k’’: атомы (3+3)b-Sn<br />

6c: атомы 4b-P + вакансии


Упорядочение<br />

и<br />

сверхструктура<br />

Sn14In10P21.2I8 частичное упорядочение<br />

вакансий<br />

tetragonal<br />

unit cell<br />

cubic<br />

unit cell<br />

vacancy<br />

P42/m a = 24.745 Ǻ<br />

c = 11.067 Ǻ<br />

Pm3-n<br />

a = 11.054 Ǻ


Сверхструктура<br />

Sn20.5As22I8: F23, а<br />

= 20.181 Å<br />

2×2×2


Sn-клатраты: “случайное<br />

упорядочение”<br />

4 варианта упорядочения для<br />

состава :<br />

Sn21As22I8 75% Sn(31), 12.5% Sn(32),<br />

12.5% vac.<br />

Нет вариантов упорядочения<br />

для состава<br />

Sn20.5As22I8


A<br />

E<br />

Клатраты<br />

E–E ab<br />

E n<br />

E–E b<br />

Классические, A8E46-δ –<br />

фазы<br />

E<br />

X<br />

Цинтля<br />

Инвертированные, E46-δX8 E–E ab<br />

E n<br />

E–E b


Инвертированные<br />

1.<br />

A<br />

Обращенная<br />

E<br />

Классические, A 8<br />

Клатраты<br />

клатраты:<br />

полярность<br />

E–E ab<br />

2. Е образуют октет, передавая<br />

избыточные электроны Х<br />

E n<br />

3. Е образует направленные<br />

2с,2е связи и неподеленные<br />

электронные пары<br />

4. Для EmXn, NE = eE–(n/m)(8–eX ) и<br />

E–E b<br />

E 46-δ<br />

nb = 8–NE –<br />

фазы<br />

E<br />

X<br />

Цинтля<br />

Инвертированные, E46-δX8 E–E ab<br />

E n<br />

E–E b


Пик<br />

485 eV<br />

487 eV<br />

619 eV<br />

Заряд<br />

на<br />

Клатратный<br />

каркас<br />

Анионы-гости<br />

Распределение<br />

Отнесение<br />

Sn (3+3)<br />

Sn (4)<br />

I (20), –0.85<br />

XPS<br />

I (20), I (24)<br />

DFT<br />

Заряд<br />

на<br />

Аналоги<br />

зарядов<br />

SnTe (485.3 eV)<br />

SnO 2<br />

(487.0 eV)<br />

KI (618 eV),<br />

CdI2 (620 eV)<br />

I (24), –0.95<br />

Sn24P19.3I8 Ковалентносвязанный<br />

каркас<br />

Анионыгости<br />

Фононное стекло –<br />

электронный кристалл !


Sn10In14P22I8 Зонная<br />

определяют<br />

Sn(4)<br />

структура: DOS<br />

σ, n, S<br />

Sn(3+3)<br />

Sn24P19.2I8


Sn24P19.3XnI8–n (X = Cl, Br)<br />

Sn-клатраты: E g<br />

P<br />

Существенно изменяются<br />

только расстояния Sn(2)–Sn(2)<br />

во второй координационной<br />

Sn2<br />

сфере Sn2<br />

Sn2<br />

Sn2<br />

Br content<br />

Sn1<br />

P<br />

Sn(2)-Sn(2), Å<br />

3.235<br />

3.230<br />

3.225<br />

3.220<br />

3.215<br />

3.210<br />

3.205<br />

3.200<br />

3.195<br />

0 2 4 6 8


Seebeck, microV/K<br />

300<br />

250<br />

200<br />

150<br />

100<br />

50<br />

Sn24P19.3Br2I6 Sn24P19.3Br4I4 Термо-ЭДС<br />

0 50 100 150 200 250 300<br />

Temperature, K<br />

ZT = S 2 Tσ/κ<br />

Термо-ЭДС<br />

Sn24P19.3I8 при<br />

Sn19.3Cu4.7P22I8 Sn14In10P21.2I8 Sn20.5As22I8 Низкотемпературные<br />

применения ?<br />

300 К:<br />

-180 μV/K<br />

-320 μV/K<br />

+80 μV/K<br />

-150 μV/K


Thermal conductivity, W/m K<br />

1.6<br />

1.2<br />

0.8<br />

0.4<br />

Sn-клатраты: низкая<br />

0.0<br />

0 50 100 150 200 250 300<br />

Клатрат<br />

–<br />

Sn17Zn7P22I8 α-SiO 2<br />

Sn24P19.3I8 Sn24P19.3I6Br2 Sn20.5As22I8 Temperature, K<br />

фононное<br />

стекло<br />

!<br />

теплопроводность<br />

κ<br />

κ<br />

(300)<br />

(220)<br />

= 0.46<br />

= 0.38<br />

W/m K<br />

W/m K<br />

Самаянизкаядляклататов<br />

Вобщем: среди самых низких<br />

значений для узкозонных п/п<br />

Max. ZT = 0.1 at 300 K<br />

Max. ZT ≈ 0.5 at 600 K


cov rcov (Si) = 1.17 Å<br />

(P) = 1.10 Å<br />

Si46-nPnTe8-d: составы<br />

P content<br />

E (Si-Si) = 226 кДж/моль<br />

Состав<br />

по<br />

Si46-2xP2xTex P content ≈ 1.74(6)• Te content<br />

Te content<br />

схеме<br />

Цинтля:<br />

Электрон-дефицитные фазы, если<br />

P content < 2·Te content


[hhl]: l ≠<br />

2n<br />

Si46-nPnTe8-d: симметрия<br />

XRD<br />

ED<br />

P23<br />

or<br />

Pm3


Si46–2xP2x–δTex : структура<br />

Широкая область гомогенности: a от 9.9657(3) Å до 9.9834(2) Å<br />

∆a ≈ 0.017 Å


emu/mol<br />

Ω m<br />

Si46–2xP2x–δTex : свойства


Катионный<br />

Si130P42Te21 клатрат-III: структура<br />

P42/mnm, a<br />

= 19.2415, c<br />

[5 12 ]<br />

[5 12 6 2 ]<br />

[5 12 6 3 ]<br />

= 10.0569 Å


ρ (Ohm·m)<br />

ln σ (S/m)<br />

10 -2<br />

10 -3<br />

7.65<br />

7.60<br />

7.55<br />

7.50<br />

7.45<br />

7.40<br />

Катионный<br />

0.003 0.004 0.005<br />

1/T<br />

Si130P42Te21 100 200 300<br />

T(K)<br />

E g<br />

(1/K)<br />

= 0.02 eV<br />

клатрат-III: свойства<br />

χ (emu/mole)<br />

0.009<br />

0.006<br />

0.003<br />

0.000<br />

3.5 T<br />

7.0 T<br />

-0.003<br />

0 100 200 300 400<br />

DSC (mV/mg)<br />

20<br />

0<br />

-20<br />

exo<br />

T(K)<br />

-40<br />

800 900 1000 1100 1200 1300<br />

T( о С)


Si 0<br />

Sample<br />

KE<br />

/ eV<br />

Clean clathrate<br />

information depth / nm<br />

As cast 780 7.8<br />

Annealed<br />

at 1273 K<br />

Te −2<br />

Катионный<br />

Si(SiO2) 780 7.8<br />

клатрат-III: поверхность<br />

Si / eV<br />

(intensity)<br />

100.0<br />

12%<br />

100.5<br />

5%<br />

103.6<br />

88%<br />

103.8<br />

95%<br />

P / eV<br />

(intensity)<br />

129.6<br />

42%<br />

134.9<br />

58%<br />

134.8<br />

100%<br />

Te +4 на<br />

поверхности<br />

P 0<br />

Te / eV<br />

(intensity)<br />

571.1<br />

33%<br />

P +5<br />

572.5<br />

67 %<br />

Not detectable


Si-клатраты: теплопроводность


Si-клатраты: <strong>термоэлектрические</strong><br />

свойства<br />

PF: больше, чем у любого устойчивого на воздухе ТЕ материала при 1000 К<br />

ZT: уступает только допированному сплаву Si/Ge (~0.6 при 1000 K)


3b Ge/P<br />

4b<br />

Ge/P<br />

Новые<br />

Ge30+xP16-xTe8-y Te(20) Te(24)<br />

возможности: полуклатраты<br />

Fm3, a<br />

= 20.61 –<br />

20.70 Å<br />

Атом “Te(24)”<br />

внеполнойклетке<br />

Ge31P15Te6.9


Новые<br />

Ge30+xP16-xTe8-y 85%<br />

возможности: полуклатраты<br />

3b<br />

Fm3, a<br />

4b<br />

Ge/P<br />

Ge/P<br />

Ge32.2P13.8Te7.7 = 20.61 –<br />

20.70 Å<br />

15%


Новый<br />

[Ge79P29S18]Te6 тип: клатрат-Х<br />

S<br />

Ge/P<br />

R3-m, a = 17.120, c = 10.609 Å<br />

S


Координация<br />

Новый<br />

[Ge79P29S18]Te6 атомов<br />

серы<br />

(2+8)<br />

тип: клатрат-Х<br />

Полное<br />

полиэдрическое представление


1.<br />

2.<br />

3.<br />

4.<br />

Интерес<br />

к<br />

а) генерацией<br />

преобразованием<br />

криогенным<br />

Перспективы<br />

типа<br />

зависит<br />

очередь, на<br />

Основной<br />

Заключение<br />

термоэлектрическим<br />

электрического<br />

теплового<br />

бескомпрессорным<br />

применения<br />

от<br />

основе<br />

успеха<br />

инструмент<br />

и<br />

перспективы<br />

материалам<br />

тока<br />

из<br />

излучения<br />

нового<br />

паразитного<br />

Солнца<br />

охлаждением.<br />

термоэлектрических<br />

новых<br />

инженерия», позволяющая<br />

очень<br />

низкой<br />

фрагментов<br />

Среди<br />

материалов<br />

путей<br />

в<br />

оптимизации<br />

наноструктурирования.<br />

оптимизации<br />

на<br />

создавать<br />

теплопроводностью<br />

на<br />

наноурвне.<br />

перспективных<br />

нового<br />

веществ<br />

поколения<br />

скуттерудиты, нанокомпозиты<br />

–<br />

и<br />

для<br />

за<br />

сегодня<br />

поколения<br />

связан с<br />

тепла; б) прямым<br />

электроэнергию; в)<br />

материалов<br />

–<br />

узкозонные<br />

счёт<br />

создания<br />

нового<br />

свойств, в первую<br />

это<br />

разделения<br />

полупроводниковые<br />

несоразмерные<br />

«фононная<br />

полупроводники<br />

структурных<br />

термоэлектрических<br />

клатраты,<br />

сложные оксиды.<br />

с

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!