09.06.2013 Views

View/Open - AperTo

View/Open - AperTo

View/Open - AperTo

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

L’analisi di Rietveld è stata fatta iniziare a valori 2θ pari a 7, in modo da<br />

eliminare la zona iniziale dei diffrattogrammi, priva di picchi e affetta da un<br />

elevato rumore di fondo (diffrazione a bassi angoli).<br />

Tabella 7.3 Parametri strumentali per l’affinamento di Rietveld<br />

Parametro Valore<br />

Raggio goniometro 200.5 mm<br />

Spessore slitta di Soller ricevente 0.1 mm<br />

Parametri assiali<br />

Lunghezza filamento 12 mm<br />

Lunghezza campione 15 mm<br />

Lunghezza slitte di Soller 12 mm<br />

Angolo Slitta di Soller primaria/secondaria 4.3°<br />

I parametri strumentali per l’affinamento di Rietveld sono riportati in Tabella<br />

7.3; nel nostro studio abbiamo scelto di permettere il libero affinamento di:<br />

coefficienti delle funzioni polinomiali descriventi il rumore di fondo; fattori di<br />

scala e taglia dei cristalliti di ogni singola fase; dimensioni di cella delle specie<br />

maggioritarie (C3S, C2S, C3A C4AF, CH, ettringite), orientazioni preferenziali<br />

di C3S, CH, ettringite, gesso tramite la funzione di correzione March-Dollase<br />

[Dollase, 1986].<br />

88

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!