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L’analisi di Rietveld è stata fatta iniziare a valori 2θ pari a 7, in modo da<br />
eliminare la zona iniziale dei diffrattogrammi, priva di picchi e affetta da un<br />
elevato rumore di fondo (diffrazione a bassi angoli).<br />
Tabella 7.3 Parametri strumentali per l’affinamento di Rietveld<br />
Parametro Valore<br />
Raggio goniometro 200.5 mm<br />
Spessore slitta di Soller ricevente 0.1 mm<br />
Parametri assiali<br />
Lunghezza filamento 12 mm<br />
Lunghezza campione 15 mm<br />
Lunghezza slitte di Soller 12 mm<br />
Angolo Slitta di Soller primaria/secondaria 4.3°<br />
I parametri strumentali per l’affinamento di Rietveld sono riportati in Tabella<br />
7.3; nel nostro studio abbiamo scelto di permettere il libero affinamento di:<br />
coefficienti delle funzioni polinomiali descriventi il rumore di fondo; fattori di<br />
scala e taglia dei cristalliti di ogni singola fase; dimensioni di cella delle specie<br />
maggioritarie (C3S, C2S, C3A C4AF, CH, ettringite), orientazioni preferenziali<br />
di C3S, CH, ettringite, gesso tramite la funzione di correzione March-Dollase<br />
[Dollase, 1986].<br />
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