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Capitolo 7<br />
METODI<br />
7.1 Diffrazione di raggi X/Rietveld (XRD/Rietveld)<br />
7.1.1 Generalità<br />
I dati di diffrazione dei raggi X sono stati registrati utilizzando un<br />
diffrattometro D4 ® Bruker AXS funzionante secondo la geometria strumentale<br />
Bragg-Brentano verticale θ-θ (nella quale sorgente e detector si muovono<br />
rispetto al campione con velocità angolari coincidenti), dotato di un<br />
alloggiamento per 60 campioni, manipolabili attraverso un sistema automatico<br />
di prelevamento (Fig. 7.1).<br />
7.1.2 Analisi XRPD<br />
a b<br />
Figura 7.1 a- diffrattometro D4 ® Bruker AXS; b- particolare dell’alloggiamento<br />
porta campioni.<br />
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