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Nell’analisi quantitativa di Rietveld, i singoli fattori di scala ed i parametri
relativi al profilo dei picchi per ogni fase, vengono variati congiuntamente con
il fondo ed i parametri di cella.
Le informazioni sulla frazione in peso (Wi) delle fasi presenti in un sistema
polifasico vengono calcolate dai fattori di scala, ottenuti dall’affinamento,
relativi alle singole fasi:
2
Si
ρ iVi
Wi = . 2
S ρ V
∑
i
Dove Si, ρi, Vi sono rispettivamente fattore di scala, densità e volume della
cella elementare della fase i-esima, e la sommatoria è estesa a tutte le fasi
presenti nel sistema.
Uno dei problemi principali nell'analisi di Rietveld è la definizione di un
modello accurato per la funzione G(∆θik).
62
i
La forma di un picco di diffrazione dipende da svariati parametri:
sorgente della radiazione, distribuzione delle lunghezze d'onda nel fascio
primario, caratteristiche del fascio (influenzate dalla configurazione di
collimatori e slitte di Soller posti tra sorgente e monocromatore,
monocromatore e campione, campione e rivelatore), sistema di rilevazione.
Esistono diversi tipi di funzioni analitiche per descrivere la forma del picco,
nella fattispecie si utilizza una miscela di funzioni Gaussiane (G) e Lorentziane
(L), con gradi di miscelazione affinabili, denominata funzione pseudo-Voigt
(pV):
i
( G)
pV = ηL + 1 −η
dove η rappresenta il parametro di mescolamento (0