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Dall’equazione di Bragg risulta inoltre evidente che non tutti i piani reticolari<br />

possono “riflettere”, ma soltanto quelli che hanno una equidistanza<br />

infatti, poiché<br />

si ha<br />

λ<br />

d hkl ≥ , (eq.3.2)<br />

2<br />

sen θ ≤ 1 , (eq.3.3)<br />

λ<br />

2d<br />

hkl<br />

≤ 1 , (eq.3.4)<br />

Data cioè una famiglia di piani reticolari (hkl) con equidistanza dhkl, si ha<br />

“riflessione di raggi X” con lunghezza d’onda λ soltanto per un determinato<br />

valore dell’angolo di incidenza θ; il piano reticolare dà luogo quindi ad una<br />

riflessione selettiva.<br />

Grazie a queste ultime considerazioni è anche possibile scegliere la lunghezza<br />

d’onda dei raggi incidenti più opportuna per il campione in esame.<br />

3.2.3 Fattore di struttura<br />

Le equazioni di Laue, e quindi la relazione di Bragg, che determinano le<br />

direzioni dei massimi di interferenza, corrispondenti alle diffusioni dovute ai<br />

piani (hkl), sono state ricavate in base alla condizione fondamentale che si<br />

abbia concordanza di fase tra le onde diffuse da tutti gli atomi appartenenti ad<br />

uno stesso reticolo.<br />

In base alla natura e alla posizione degli atomi presenti nella cella elementare, è<br />

possibile calcolare le intensità delle riflessioni hkl, componendo nella<br />

direzione di diffusione le onde diffuse dai vari atomi contenuti nella cella<br />

elementare.<br />

Se f1, f2… e φ1, φ2… sono rispettivamente le ampiezze e le fasi delle onde<br />

diffuse dai vari atomi, l’ampiezza e la fase dell’onda risultante sono date dal<br />

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