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Dall’equazione di Bragg risulta inoltre evidente che non tutti i piani reticolari<br />
possono “riflettere”, ma soltanto quelli che hanno una equidistanza<br />
infatti, poiché<br />
si ha<br />
λ<br />
d hkl ≥ , (eq.3.2)<br />
2<br />
sen θ ≤ 1 , (eq.3.3)<br />
λ<br />
2d<br />
hkl<br />
≤ 1 , (eq.3.4)<br />
Data cioè una famiglia di piani reticolari (hkl) con equidistanza dhkl, si ha<br />
“riflessione di raggi X” con lunghezza d’onda λ soltanto per un determinato<br />
valore dell’angolo di incidenza θ; il piano reticolare dà luogo quindi ad una<br />
riflessione selettiva.<br />
Grazie a queste ultime considerazioni è anche possibile scegliere la lunghezza<br />
d’onda dei raggi incidenti più opportuna per il campione in esame.<br />
3.2.3 Fattore di struttura<br />
Le equazioni di Laue, e quindi la relazione di Bragg, che determinano le<br />
direzioni dei massimi di interferenza, corrispondenti alle diffusioni dovute ai<br />
piani (hkl), sono state ricavate in base alla condizione fondamentale che si<br />
abbia concordanza di fase tra le onde diffuse da tutti gli atomi appartenenti ad<br />
uno stesso reticolo.<br />
In base alla natura e alla posizione degli atomi presenti nella cella elementare, è<br />
possibile calcolare le intensità delle riflessioni hkl, componendo nella<br />
direzione di diffusione le onde diffuse dai vari atomi contenuti nella cella<br />
elementare.<br />
Se f1, f2… e φ1, φ2… sono rispettivamente le ampiezze e le fasi delle onde<br />
diffuse dai vari atomi, l’ampiezza e la fase dell’onda risultante sono date dal<br />
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