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Tabella 11.5 Composizione mineralogica in funzione del tempo di<br />

esposizione ai raggi X - campione CemA<br />

Esposizione Frazione in peso (%)<br />

C3S C2S 3 C4AF C3A Ettringite Portlandite Totale GofF Rwp<br />

8 min 29.0 22.1 3.4 5.1 9.8 20.7 100 1.32 9.53<br />

72 min ore 28.4 21.0 2.4 5.4 9.8 23.5 100 1.35 9.83<br />

Dato che i diffrattogrammi misurati sono pienamente sovrapponibili, e non<br />

essendo visibili sostanziali differenze nella composizione mineralogica dei due<br />

campioni (Tabella 11.5) è quindi ragionevole ritenere che i tempi di<br />

esposizione ai raggi X, utilizzati per il monitoraggio della loro idratazione, non<br />

comportino significative modificazioni strutturali che possano falsare l’analisi<br />

di Rietveld.<br />

Con il metodo XRD in-situ, è teoricamente possibile monitorare<br />

l'idratazione di una pasta di cemento in maniera continua, nel periodo iniziale<br />

dell'idratazione.<br />

Per verificare i possibili effetti di una esposizione continua ai raggi X in tale<br />

intervallo di tempo è stata condotta una prova analoga a quella precedente,<br />

esasperando però le condizioni sperimentali a cui è stato sottoposto il campione<br />

in questo studio.<br />

La prima pastiglia ha subito un irraggiamento per circa 12 ore (90 scansioni da<br />

circa 8 minuti ciascuna); sulla seconda pastiglia è stata eseguita una sola<br />

misura, a 12 ore dall'impasto.<br />

I diffrattogrammi relativi alle misure a 12 ore di maturazione per i due<br />

campioni sono mostrati in Figura 11.10: la curva blu corrisponde alla singola<br />

scansione da 8 minuti effettuata sul campione “vergine” a 12 ore dall’impasto;<br />

la curva rossa corrisponde alla novantesima scansione effettuata sul campione<br />

irraggiato continuamente per 12 ore.<br />

Le differenze in termini di intensità dei due diffrattogrammi sono dovute a<br />

effetti propri della misura, e non influenzano l'analisi di Rietveld.<br />

L’effetto principale è un innalzamento del rumore di fondo della misura ed un<br />

generale allargamento dei picchi di costituenti lo spettro (ben visibile per i<br />

riflessi evidenziati dai cerchi verdi).<br />

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