28.02.2014 Views

σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace

σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace

σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

κληρωμένης δομής (Εικ. 45a & b). Οι θερμοκρασίες έχουν προκύψει με απλή<br />

επαναληπτική μέθοδος με αρχική τιμή για τον συντελεστή γ(T) αυτή που αποκτά<br />

σε θερμοκρασία περιβάλλοντος. Η διαδικασία συγκλίνει σε μία τιμή θερμοκρασίας<br />

στην 3 η με 4 η επανάληψη, λόγω της ασθενούς εξάρτησης<br />

T , όπως προβλέψαμε<br />

στην προηγούμενη παράγραφο.<br />

Δεν παρατηρούμε κάποια θέρμανση του υλικού σε αυτές τις πυκνότητες ισχύος<br />

<strong>και</strong> στις δύο περιπτώσεις υλικών. Οι απόλυτες τιμές της θερμοκρασίας που<br />

προκύπτουν με αυτήν την μέθοδο δεν αντιστοιχούν ακριβώς στην πραγματικότητα,<br />

καθώς θα έπρεπε να δίνουν μία τιμή κοντά στη θερμοκρασία περιβάλλοντος<br />

(24 ο C). Συνυπολογίζοντας <strong>και</strong> το σφάλμα οι αποκλίσεις από την πραγματικότητα<br />

φαίνεται να είναι μικρές.<br />

Φαίνεται πως με τον κυλινδρικό <strong>και</strong> για μήκος κύματος στα 647.1nm, μπορούμε<br />

να χρησιμοποιήσουμε αρκετά μεγάλες ισχύς χωρίς να θερμάνουμε το δείγμα.<br />

Το γεγονός αυτό εκμεταλλευτήκαμε στις μετρήσεις με τον οπτικό φούρνο για να<br />

καταφέρουμε να πάρουμε καλές μετρήσεις μέσα από τα παράθυρα.<br />

Δείγματα Glass-ZnO-aSi (1μm) πριν το annealing<br />

Εικόνα 46: Η θερμοκρασία ως προς την πυκνότητα ισχύος των δειγμάτων του αμόρφου πυριτίου<br />

με n-layer (μαύρο), λίγα nm ncSi (κόκκινο) <strong>και</strong> χωρίς n-layer (πράσινο), όπως προέκυψε μέσω<br />

των ολοκληρωμένων εντάσεων S/AS, από φάσματα που καταγράφηκαν με χρήση Σφαιρικού<br />

φακού στα 647.1nm.<br />

Είχαμε στη διάθεσή τρείς σειρές δειγμάτων Glass-ZnO-aSi για την ανόπτηση<br />

Laser. Στη πρώτη τα δείγματα στην επιφάνεια του aSi ήταν νοθευμένα για μία<br />

πολύ λεπτή στρώση με δότες ηλεκτρονίων (n-layer). Στη δεύτερη, πάνω στο aSi<br />

είχαν αναπτυχθεί μερικά νανόμετρα ncSi. Η τελευταία ήταν μόνο aSi. Ο λόγος για<br />

86

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!