σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace

να αναλύσουμε με μεγαλύτερη ακρίβεια τις κορυφές του πυριτίου που επικαλύπτονται
με αυτές του ZnO.
Εικόνα 27: Συγκριτικά διαγράμματα των ακτινογραφημάτων των δειγμάτων με διαδοχικά αυξανόμενο
πάχος μcSi, με λεπτό υμένιο τύπου n (πάνω) και χωρίς αυτό (κάτω).
Όπως είναι αναμενόμενο, με την αύξηση του πάχους του μcSi, μειώνεται η συνεισφορά
του ZnO και αυξάνεται αυτή του μcSi. Αυτό μεταφράζεται σε μείωση της
έντασης των κορυφών του ZnO και αντίστοιχα αύξηση για τις κορυφές του μcSi.
Το γεγονός αυτό αποτελεί έναν επιπλέον τρόπο επαλήθευσης της ταυτοποίησης
των κορυφών με τις στρώσεις από τις οποίες προέρχονται.
Από τα αποτελέσματα των προσαρμογών, όταν το πάχος αυξάνεται από
300nm σε 600nm, παρατηρείται μία αύξηση, (οριακά πάνω από το όριο πειραματικής
αβεβαιότητας) του μεγέθους των νάνο-κρυσταλλίτων στη κρυσταλλογραφική
διεύθυνση [111] ενώ στις άλλες διευθύνσεις τα μεγέθη παραμένουν σχεδόν
αμετάβλητα. Το γεγονός αυτό δείχνει μία προτίμηση ανάπτυξης των κρυσταλλιτών
προς την διεύθυνση [111] με την αύξηση του πάχους της στρώσης. Αντίθετα,
αυτή η τάση φαίνεται να αναιρείται σε μεγαλύτερα πάχη, καθώς από τα 600nm
στα 900nm, δε μεταβάλλεται το μέγεθος ούτε στην [111]. Η τάση αυτή εμφανίζεται
και στις δύο σειρές δειγμάτων με και χωρίς λεπτό υμένιο τύπου n.
56