σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace
σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace
σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace
Create successful ePaper yourself
Turn your PDF publications into a flip-book with our unique Google optimized e-Paper software.
4.2.1. Ολοκληρωμένη δομή κυψελίδας<br />
Εικόνα 25: Τα ακτινογραφήματα των διαδοχικών στρώσεων των δειγμάτων μας. Οι άμορφες<br />
στρώσεις δεν παρουσιάζουν κάποια κορυφή, όπως ήταν αναμενόμενο. Μπορούμε να ξεχωρίσουμε<br />
τέσσερεις κορυφές του πυριτίου από τις οποίες γίνεται <strong>και</strong> η συσχέτιση με τα δεδομένα της βάσης<br />
δεδομένων.<br />
Από τα δείγματα των διαδοχικών στρώσεων που αποτελούν την ολοκληρωμένη<br />
δομή μας, μπορούμε να συσχετίσουμε τις διάφορες κορυφές, που εμφανίζονται<br />
στο ακτινογράφημα της ολοκληρωμένης δομής, με το αντίστοιχο στρώμα<br />
από το οποίο προέρχονται (Εικ. 25).<br />
Όπως είναι αναμενόμενο οι άμορφες στρώσεις του γυαλιού <strong>και</strong> του aSi δεν δίνουν<br />
κορυφές, αντίθετα με τις δύο πολυκρυσταλλικές του ZnO <strong>και</strong> του μcSi. Στη<br />
περίπτωση του ολοκληρωμένης δομής (Πράσινο γράφημα), παρατηρούμε ότι εμφανίζονται<br />
<strong>και</strong> οι κορυφές του ZnO <strong>και</strong> καθώς το τελευταίο δεν περιέχεται στις<br />
στρώσεις του aSi <strong>και</strong> μcSi, συνεπάγεται πως το βάθος διείσδυσης των ακτίνων-Χ<br />
είναι τέτοιο ώστε τουλάχιστον να φτάνει έως την στρώση του ZnO. Συνεπώς, τα<br />
αποτελέσματα που προέκυψαν από την ανάλυση των κορυφών για το μέγεθος<br />
<strong>και</strong> το σχήμα των νάνο-κρυσταλλίτων περιγράφουν την μέση κατάσταση όλης της<br />
στρώσης του μcSi. Συγκρίνοντας τις δύο τελευταίες μπορούμε εύκολα να διακρίνουμε<br />
κάποιες κορυφές οι οποίες εμφανίζονται μόνο στην ολοκληρωμένη δομή<br />
<strong>και</strong> μπορούν να αποδοθούν με βεβαιότητα στο μcSi, 2θ=28.4 ο , 47.3 ο , 56.1 ο <strong>και</strong><br />
88.1 ο , καθώς αυτές δεν συμπίπτουν με κορυφές του ZnO.<br />
Για την ανάλυση των δεδομένων χρησιμοποιήθηκε το πρόγραμμα X’Pert<br />
HighScore της PANalytical. Με χρήση της βάσης πρότυπων υλικών που συνοδεύει<br />
το πρόγραμμα, μπορέσαμε να ταυτοποιήσουμε όλες τις κορυφές που εμφανίζονται<br />
στο ακτινογράφημα της ολοκληρωμένης δομής (Εικ. 26). Προέκυψε,<br />
όπως ήταν αναμενόμενο, ότι το υλικό μας αποτελείται από δύο υλικά ZnO <strong>και</strong> Si,<br />
των οποίων τα χαρακτηριστικά παραθέτουμε στο Παράρτημα Α. Η επιλογή του<br />
τελικού συνδυασμού πρότυπων υλικών, έγινε με βάση το ποσοστό συσχετισμού<br />
με τις κορυφές του ακτινογραφήματος, λαμβάνοντας υπόψη <strong>και</strong> τις σχετικές εντάσεις<br />
της κάθε κορυφής.<br />
53
Change language