σχολη εφαρμοσμένων μαθηματικων και φυσικων ... - DSpace

Σε αυτή τη κατηγορία δειγμάτων κάναμε πρόσθετες μετρήσεις με καινούργια
δείγματα από την Ηλιόσφαιρα και με μεγαλύτερο χρόνο καταγραφής των φασμάτων
για καλύτερο λόγο σήματος προς θόρυβο (Παράρτημα Γ(b-2 η επανάληψη)).
Η τρίτη αυτή σειρά μετρήσεων με αυτά τα δείγματα κρίθηκε αναγκαία, λόγο
αποκλίσεων από την αναμενόμενη εικόνα που παρουσίαζε η ανάλυση των προηγούμενων
μετρήσεων. Τελικά και σε αυτή τη σειρά εμφανίστηκαν τα ίδια προβλήματα,
τα οποία λύθηκαν, λαμβάνοντας υπόψη τις παρατηρήσεις και τις διορθώσεις
στον τρόπο ανάλυσης στις οποίες αναφερθήκαμε προηγουμένως.
Σειρά μετρήσεων με δέσμη διέγερσης στα 476.5nm
Εικόνα 52: (a) Τα φάσματα Raman των δειγμάτων με διαδοχικά αυξανόμενο πάχος μcSi με n-
layer στα 476.5nm. (b) Οι προσαρμογές των φασμάτων. Ένθετος Πίνακας: Τα ποσοστά των ζωνών.
Προβήκαμε σε μία σειρά μετρήσεων με τη χρήση της μπλε γραμμής 476.5nm
του laser. Τα αποτελέσματα αυτών των μετρήσεων παρουσιάζονται στην Εικ. 52
για τα δείγματα με το n-layer και στη Εικ. 53 για τα δείγματα χωρίς το n-layer.
Το μικρότερο βάθος διείσδυσης, μας έδωσε την δυνατότητα να μελετήσουμε
ακόμα πιο επιφανειακά στρώματα στο κάθε πάχος της στρώσης του μcSi.
Τα ποσοστά των ζωνών εμφανίζουν την ίδια συμπεριφορά που παρατηρήθηκε
και στις μετρήσεις με την πράσινη γραμμή. Μείωση του άμορφου χαρακτήρα και
αύξηση των κρυσταλλικών με την αύξηση του πάχους του μcSi. Σε σύγκριση με
96