31.07.2015 Views

Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

SHOW MORE
SHOW LESS

You also want an ePaper? Increase the reach of your titles

YUMPU automatically turns print PDFs into web optimized ePapers that Google loves.

Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.Fig.IV.16 : Simulation <strong><strong>de</strong>s</strong> trajectoires électroniques <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons à la sortie <strong>de</strong> l’optique <strong><strong>de</strong>s</strong>ortie (diaphragme <strong>de</strong> sortie E 6 qui est au pot<strong>en</strong>tiel V 6 = 40 V) dans le mo<strong>de</strong> où V G = – V 0 , avecV 0 = 0, 9, 18 et 29 V. Pour ces simulations, nous avons fixé l’énergie <strong>de</strong> l’échantillon à 10 V, etl’énergie moy<strong>en</strong>ne <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons émis à 5 eV. Un angle <strong>de</strong> réémission compris <strong>en</strong>tre [-50° ;50°] aété choisi. E i fait référ<strong>en</strong>ce aux électrons incid<strong>en</strong>ts (dont le point objet est situé au milieu dudiaphragme <strong>de</strong> sortie E 6 ), et E S aux électrons secondaires réémis <strong>par</strong> l’échantillon. Nousconstatons que plus le pot<strong>en</strong>tiel <strong>de</strong> gar<strong>de</strong> est négatif <strong>par</strong> rapport au pot<strong>en</strong>tiel <strong>de</strong> l’échantillon, etplus la réémission <strong>de</strong> secondaires est « électrostatiquem<strong>en</strong>t » défavorisée.Cet effet peut cep<strong>en</strong>dant être diminué <strong>en</strong> travaillant avec <strong><strong>de</strong>s</strong> diaphragmes (situés sur le porteéchantillon) <strong>de</strong> gran<strong>de</strong> ouverture. Il est <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t avantageux <strong>de</strong> disposer d’échantillons <strong>de</strong>gran<strong>de</strong> surface. En pratique nous avons utilisé <strong><strong>de</strong>s</strong> diaphragmes <strong>en</strong> or <strong>de</strong> diamètre d’ouvertureΦ= 3 mm.2.B.5.3. Asymétries instrum<strong>en</strong>talesUne étu<strong>de</strong> complète <strong><strong>de</strong>s</strong> asymétries instrum<strong>en</strong>tales a été effectuée. Nous rappelons ici brièvem<strong>en</strong>t lesrésultats importants <strong>de</strong> cette étu<strong>de</strong>.De façon générale, ces asymétries instrum<strong>en</strong>tales sont gênantes pour la mesure <strong><strong>de</strong>s</strong> « vraies »asymétries liées au phénomène <strong>de</strong> filtre à spin qui sont <strong>de</strong> l’ordre <strong>de</strong> 10 -3 .Ces asymétries instrum<strong>en</strong>tales sont <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux natures : Optique. Lorsque l’on change la polarisation <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons incid<strong>en</strong>ts via la cellule <strong>de</strong> Pockels,le point d’émission <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons photo-émis, et donc, le courant peut changer et induire <strong><strong>de</strong>s</strong>asymétries <strong>de</strong> courants collectés. Magnétique. Lorsque l’on applique <strong><strong>de</strong>s</strong> pulses <strong>de</strong> <strong>champ</strong>s magnétiques, l’<strong>en</strong>vironnem<strong>en</strong>tmagnétique autour du faisceau d’électrons change et conduit à une modulation <strong>de</strong> la collectiondans le SC.Ces asymétries sont définies <strong>de</strong> la façon suivante :83

Hooray! Your file is uploaded and ready to be published.

Saved successfully!

Ooh no, something went wrong!