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Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

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Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.2.B.4. Les bobines d’aimantation in-situLes mesures d’asymétrie sont effectuées <strong>en</strong> l’abs<strong>en</strong>ce <strong>de</strong> <strong>champ</strong> magnétique (nous rappelons que le<strong>champ</strong> réman<strong>en</strong>t <strong>de</strong> nos échantillons est <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 100%). Cep<strong>en</strong>dant, il est nécessaire avant chaquemesure d’aimanter in-situ l’échantillon selon la direction désirée. Cette opération est effectuée à l’ai<strong>de</strong><strong>de</strong> pulses <strong>de</strong> <strong>champ</strong>s magnétiques <strong>de</strong> forme gaussi<strong>en</strong>ne et <strong>de</strong> largeur typique 500 ms.Des bobines <strong>de</strong> Helmoltz ont été fixées sur l’optique <strong>de</strong> sortie, via <strong><strong>de</strong>s</strong> colonnettes. Ces bobines sontsoli<strong>de</strong>m<strong>en</strong>t fixées afin <strong>de</strong> n’induire aucune perturbation mécanique (déplacem<strong>en</strong>t du porte échantillon)suite aux pulses <strong>de</strong> <strong>champ</strong>s magnétiques. Nous avons câblé ces bobines <strong>de</strong> sorte à pouvoir lesalim<strong>en</strong>ter <strong>en</strong> série ou <strong>en</strong> <strong>par</strong>allèle. Lorsqu’elles sont <strong>en</strong> série (résistance <strong>de</strong> 20 Ω), un courant <strong>de</strong> unampère crée à la position <strong>de</strong> l’échantillon un <strong>champ</strong> <strong>de</strong> 40 Oe. Une alim<strong>en</strong>tation Kepco <strong>de</strong> 400Wpermet alors <strong>de</strong> produire <strong><strong>de</strong>s</strong> pulses d’amplitu<strong>de</strong> maximale 160 Oe. Signalons égalem<strong>en</strong>t, qu’afin <strong>de</strong>limiter au maximum les asymétries d’ordre instrum<strong>en</strong>tal, il est très important que l’<strong>en</strong>semble <strong><strong>de</strong>s</strong>pièces utilisées soit rigoureusem<strong>en</strong>t amagnétique. A cette fin, toutes les pièces <strong>de</strong> l’optiqueélectronique ont été réalisées avec <strong>de</strong> l’ARCAP AP4 (amagnétique), et tester à l’ai<strong>de</strong> d’une son<strong>de</strong>magnéto-résistive spécialem<strong>en</strong>t conçue pour mesurer un <strong>champ</strong> <strong>de</strong> quelques mG. Enfin, l’<strong>en</strong>semble <strong>de</strong>l’optique est protégé du <strong>champ</strong> magnétique extérieur <strong>par</strong> du μ-métal.Fig IV.10 : Photographie (vue d’<strong>en</strong> haut) du système {optique <strong>de</strong> sortie – gar<strong>de</strong> - bobines <strong>de</strong>Helmoltz}.2.B.5. Performances <strong>de</strong> l’<strong>en</strong>semble <strong>de</strong> l’optique électroniqueNous avons considéré les performances <strong>de</strong> l’<strong>en</strong>semble <strong>de</strong> l’optique électronique selon trois critères :R<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t total <strong>de</strong> l’optique électronique. Ce r<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t est défini comme le rapport <strong>en</strong>tre lecourant mesuré sur l’échantillon, <strong>en</strong> mo<strong>de</strong> cage <strong>de</strong> Faraday, <strong>par</strong> le courant émis <strong>par</strong> la sourced’électrons. La transmission totale dép<strong>en</strong>d principalem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la résolution <strong>de</strong> l’analyseur. Unebonne transmission permet alors d’optimiser le niveau <strong>de</strong> signal sur l’échantillon et <strong>de</strong> limiterles bruits <strong>par</strong>asites 5 .Propriétés <strong>de</strong> focalisation et <strong>de</strong> collection du faisceau d’électrons sur l’échantillon <strong>en</strong> fonction<strong>de</strong> l’énergie d’injection. Ces propriétés sont importantes. En effet, si celles-ci sontsatisfaisantes, la mesure peut être r<strong>en</strong>due continue et s’effectuer sans réglage <strong><strong>de</strong>s</strong> pot<strong>en</strong>tiels <strong>de</strong>l’optique électronique lorsque l’énergie d’injection est changée.Asymétries instrum<strong>en</strong>tales. Ces asymétries fix<strong>en</strong>t les limites <strong>de</strong> détection <strong>de</strong> l’ap<strong>par</strong>eil. Il estdonc important d’<strong>en</strong> connaître la nature et l’ordre <strong>de</strong> gran<strong>de</strong>ur.5 Ces bruits <strong>par</strong>asites provi<strong>en</strong>n<strong>en</strong>t <strong>par</strong> exemple du picage du 50 Hz sur les alim<strong>en</strong>tations <strong><strong>de</strong>s</strong> optiquesélectroniques. Ces effets sont d’autant plus importants que l’on s’écarte du maximum <strong>de</strong> transmission.77

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