Etudes par microscopie en champ proche des phÃ©nomÃ¨nes de ...

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$G. M. Zaslavsky, Chaos, fractional kinetics, and anomalous transport ...$

Chapitre III – Réalisation et caractérisations d’un filtre à spin MF/SCEn conclusion, s’il est difficile de remonter à une valeur précise de γ , la diminution du courant desaturation avec la température de recuit laisse cependant supposer une amélioration de la qualité del’oxyde (diminution du nombre de trous).3.D. Influence du traitement de surface3.D.1. Influence de la température de recuit et du traitement de surfaceNous présentons sur la figure (Fig.III.8) les courbes I-V obtenues avec les traitements de surface àHCl et à l’hydrazine pour des échantillons non recuits puis recuits à 150°C. La surface des échantillons estS = 0.1 cm². Les mesures sont effectuées à température ambiante. On observe que quelque soit latempérature de recuit, ces jonctions sont caractérisées par des facteurs d’idéalité supérieurs à 1, ce quilaisse penser que le transport électronique n’est pas uniquement gouverné par l’émission thermoionique.Aussi, les hauteurs de barrière extraites par la méthode exposée plus haut sont généralement inférieures à0.7 eV. Nous observons par ailleurs un effet important du recuit sur les caractéristiques électriques desdiodes. Si le courant en inverse ne varie pas significativement (entre un facteur 1 et 5), comme c’était lecas pour les surfaces oxydées, le courant en polarisation directe présente une forme en « N » avec un pointd’inflexion au centre. Cette forme est systématiquement observée après recuit, et semble ne pas êtreprésente avant recuit (ou peu). Nous avons par ailleurs vérifié (à l’aide du photo-courant) que cet effetn’est pas lié à la qualité du contact arrière. Enfin, nous avons observé que cette forme est plus marquéepour une passivation à l’hydrazine que pour la passivation à HCl.Nous avons enfin réalisée une étude en fonction de la surface de la diode pour ces deux types depassivation (Fig.III.9). Les résultats sont synthétisés dans le (Tab.III.2). Les moyennes ont été effectuéessur 8 échantillons pour la passivation à HCl, et sur 5 échantillons pour la passivation à l’hydrazine.52
Chapitre III – Réalisation et caractérisations d’un filtre à spin MF/SCFig. III.8 : Influence de la température de recuit sur les propriétés électriques des diodes. En haut :courbe I-V pour un échantillon non recuit et recuit à 150°C passivé à HCl. En bas : courbe I-V pourun échantillon non recuit et recuit à 150°C passivé à l’hydrazine.Pour la passivation à HCl les courants de saturation, normalisés à la surface de la diode, augmentent avecla surface. De même le produit R 0 SJ SAT s’éloigne de la valeur théorique 0.025. Il y a donc« dégradation » des propriétés électriques (présence de courant de fuite) avec l’augmentation de lasurface latérale de la jonction. De fait, nous avons rencontré beaucoup de difficultés à obtenir deséchantillons de surface S = 0.3 cm² reproductibles avec un traitement à HCl. Ce résultat peut s’expliquerpar l’existence de défauts micro/macroscopiques du wafer de GaAs (qui nous le rappelons ne bénéfice pard’une reprise d’épitaxie) et par l’action du traitement de surface : un traitement à HCl désoxyde la surfacede GaAs, mais ne passive pas les défauts électroniques de surface.Pour la passivation à l’hydrazine, où la statistique est moins importante, les résultats ne montrent pas desensibilité particulière à la surface. Cependant, nous observons un écart type important sur les mesures decourant de saturation même pour des échantillons de petites surfaces. Par ailleurs, précisons que lesvaleurs des barrières de Schottky déduite à partir de la fonction de Rhoderick ne sont plus véritablement53
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RésuméDRISS LAMINEEffet de filtre
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AbstractDRISS LAMINESpin filter eff
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RemerciementsRemerciementsJ’ai r
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Table des matières4.A. Notion de r
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