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Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

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Chapitre II – Concepts généraux autour <strong>de</strong> l’électronique <strong>de</strong> spin• dans le premier cas, pour un courant d’électrons non polarisés, la mesure <strong>de</strong> lapolarisation du faisceau transmis s’effectue à l’ai<strong>de</strong> d’un détecteur <strong>de</strong> spin, qui est unetechnique délicate à mettre <strong>en</strong> œuvre.• dans l’autre cas, il faut disposer d’une source à électrons <strong>de</strong> polarisation connue(technique aujourd’hui bi<strong>en</strong> maîtrisée) et mesurer une asymétrie <strong>de</strong> courant transmis.Ces étu<strong><strong>de</strong>s</strong> peuv<strong>en</strong>t être gran<strong>de</strong>m<strong>en</strong>t simplifiées expérim<strong>en</strong>talem<strong>en</strong>t si l’on fabrique <strong>de</strong>ux filtres à spin<strong>en</strong> série. Avec une telle structure on réalise <strong>en</strong> effet un dispositif à vanne <strong>de</strong> spin. Le premier filtre àspin agit alors comme un polariseur et le second comme un analyseur 5 . Il <strong>de</strong>vi<strong>en</strong>t ainsi superflu <strong>de</strong>disposer d’une source d’électrons polarisés, ou d’un dispositif d’analyse <strong>en</strong> spin. Une mesured’asymétrie <strong>de</strong> courant dans les différ<strong>en</strong>tes configurations permet <strong>en</strong> principe d’étudier ce dispositif.Nous allons préciser ce point <strong>en</strong> généralisant le formalisme matriciel introduit ci-<strong><strong>de</strong>s</strong>sus au cas d’unestructure à vanne <strong>de</strong> spin.Pour <strong>de</strong>ux filtres à spin <strong>en</strong> série, la matrice « filtre à spin » du SVTproduit <strong><strong>de</strong>s</strong> matrices « filtre à spin » <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>de</strong>ux couches magnétiques ( IISVTest simplem<strong>en</strong>t donnée <strong>par</strong> leσ2etμI1). On a ainsi :2 ⎞⎟⎠σ μ ⎛ 1+S1S2σ.S1+ μ.SISVT= I2I1= TS1TS2⎜(II.15)⎝σ.S1+ μS21+S1S2Dans le cas général il y a 4 états possibles du système, correspondant chacun à une aimantation donnée<strong><strong>de</strong>s</strong> couches 1 et 2. Pour un faisceau incid<strong>en</strong>t non polarisé, les configurations «σμ » et « σ μ » sontéquival<strong>en</strong>tes, ainsi que les configurations « σ μ » et « σ μ ». On peut alors définir sans ambiguïté <strong>de</strong>uxétats : l’état <strong>par</strong>allèle P et l’état anti<strong>par</strong>allèle AP. L’asymétrie <strong>de</strong> courant (déduite <strong>de</strong> (II.12) et(II.15) ) pour ces <strong>de</strong>ux états donne alors :A SVT= S 1S 2(II.16)C'est-à-dire que l’asymétrie <strong>de</strong> courant est le produit <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>de</strong>ux fonctions <strong>de</strong> Sherman. Cette expressionest analogue à celle obt<strong>en</strong>ue <strong>en</strong> TMR (II.2b).2.B.2.2. Calcul microscopique <strong>de</strong> t P et SLes gran<strong>de</strong>urs propres au filtre à spin peuv<strong>en</strong>t être évaluées <strong>en</strong> supposant un transport balistique dansle filtre à spin (c'est-à-dire <strong>en</strong> supposant que l’électron n’a subi aucune collision <strong>de</strong> nature élastique ouinélastique). Pour un courant d’électrons incid<strong>en</strong>ts I d’énergieε , si l’on analyse les électronscollectés à l’énergieε , le courant transmis dép<strong>en</strong>dant du spin est donné <strong>par</strong> 6 :σ σ dI C= α exp( − ) I0λ σoùασ correspond aux coeffici<strong>en</strong>ts <strong>de</strong> transmission (év<strong>en</strong>tuellem<strong>en</strong>t dép<strong>en</strong>dants du spin) à l’interface etσà l’énergieε , et λ aux libres <strong>par</strong>cours moy<strong>en</strong> inélastiques pour les <strong>de</strong>ux états <strong>de</strong> spin. On a alors :d ddt P= exp( − ) cosh( )[ α + s tanh( )]λ δδds + α tanh( )S = δdα + s tanh( )δ↑↓05 Cette situation est très similaire avec l’optique, où l’on peut caractériser un polariseur <strong>par</strong> sa transmissivité et sasélectivité S. L’étu<strong>de</strong> du système {Polariseur-Analyseur} (id<strong>en</strong>tiques) permet <strong>de</strong> caractériser les <strong>de</strong>ux élém<strong>en</strong>ts.6 Les contributions <strong><strong>de</strong>s</strong> diffusions élastiques et inélastiques qui ne dép<strong>en</strong>d<strong>en</strong>t pas du spin, ont pour effet <strong>de</strong>multiplier <strong>par</strong> un même facteur les <strong>de</strong>ux courants transmis, et donc n’affecte pas la fonction <strong>de</strong> Sherman du filtreà spin. En revanche, les contributions élastiques et dép<strong>en</strong>dantes du spin compliqu<strong>en</strong>t l’expression <strong><strong>de</strong>s</strong> courantstransmis; ici nous les négligerons.23

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