Chapitre V – Modélisation du transport d’électrons chauds polarisés <strong>de</strong> spinpolarisation <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons secondaires ne dép<strong>en</strong>d pas <strong>de</strong> celle <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons primaires, c'est-à-dire qu<strong>en</strong>ous négligeons tout terme d’échange dans l’interaction coulombi<strong>en</strong>ne (i.e selon les notations duchapitre II, nous négligerons tout terme <strong>de</strong> pompage électronique, P PE = 0). Dans le développem<strong>en</strong>tdu modèle, il sera ainsi inutile <strong>de</strong> distinguer les électrons secondaires <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> leur spin.Seuls les électrons primaires seront traités sé<strong>par</strong>ém<strong>en</strong>t <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> leur spin.2.A.4. Hypothèses concernant les propriétés <strong>de</strong> l’interfacePour décrire la transmission à travers l’interface métal/SC, il est <strong>en</strong> principe nécessaire <strong>de</strong> connaîtreprécisém<strong>en</strong>t cette interface, ainsi que la structure <strong>de</strong> ban<strong>de</strong> du métal et du SC.Dans la suite <strong>de</strong> ce chapitre, nous avons interprété l’<strong>en</strong>semble <strong>de</strong> nos résultats <strong>en</strong> supposant (et nous lejustifierons plus loin) que le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission à l’interface α(ε) peut-être estschématisé <strong>par</strong> <strong>de</strong>ux énergies seuil : φ Bet φ Sauxquelles sont associées <strong>de</strong>ux gains différ<strong>en</strong>tsαBetα S, que nous supposons constants.L’interface est alors caractérisée <strong>par</strong> <strong>de</strong>ux barrières que nous nommerons <strong>par</strong> abus <strong>de</strong> langage φBetφS(Fig.V.2). La première a pour origine physique la marche <strong>de</strong> pot<strong>en</strong>tiel imposée <strong>par</strong> la barrière <strong>de</strong>Schottky φBet vaut typiquem<strong>en</strong>t 0.7 eV (chapitre III). Son gain, αBdép<strong>en</strong>d <strong>de</strong> la transmissionquantique au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> cette barrière, ainsi que <strong>de</strong> l’efficacité <strong>de</strong> collection <strong>de</strong> l’interface métal/SC.Cette valeur est <strong>en</strong> pratique faible, et son ordre <strong>de</strong> gran<strong>de</strong>ur nous est donné <strong>par</strong> les valeurs ducoeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission (extrapolé à épaisseur nulle) mesuré dans les MTT (chapitreII) : α ≈10 −4 . En effet, un électron qui se prés<strong>en</strong>te à l’interface métal/SC à cette énergie, est <strong>en</strong>général très efficacem<strong>en</strong>t diffusé, soit <strong>par</strong> les phonons soit <strong>par</strong> l’interface même, à cause <strong><strong>de</strong>s</strong> gran<strong><strong>de</strong>s</strong>différ<strong>en</strong>ces qui exist<strong>en</strong>t dans la structure électronique du métal et du SC [Lu<strong>de</strong>ke93]. Ce type <strong>de</strong>diffusion relaxe les contraintes <strong>de</strong> conservation <strong>de</strong> la quantité <strong>de</strong> mouvem<strong>en</strong>t, et le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong>transmission au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> la barrière dép<strong>en</strong>d alors ess<strong>en</strong>tiellem<strong>en</strong>t du cône <strong>de</strong> collection et <strong>de</strong> lad<strong>en</strong>sité d’état du SC. Comme la d<strong>en</strong>sité d’état dans le métal est nettem<strong>en</strong>t supérieure à celle du SC,pour une énergie <strong>proche</strong> du minimum <strong>de</strong> la ban<strong>de</strong> <strong>de</strong> conduction, un électron diffusé à la surface auraune très gran<strong>de</strong> probabilité <strong>de</strong> retourner vers le métal, imposant un faible coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission àl’interface.La <strong>de</strong>uxième énergie seuil, φS, et dont l’origine sera discutée à la fin <strong>de</strong> chapitre, est liée à priori autraitem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> surface ainsi qu’à l’interface métal/SC. Pour une passivation à l’UVOCS, <strong>par</strong> exemple,une énergie seuil <strong>de</strong> l’interface est le gap <strong>de</strong> l’oxy<strong>de</strong>, <strong>de</strong> valeur typique 4.4 eV (chapitre III). Au<strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> cette barrière, les électrons pass<strong>en</strong>t avec une probabilité <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 1, alors qu’<strong>en</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong>sous, ilsdoiv<strong>en</strong>t franchir l’oxy<strong>de</strong> soit <strong>par</strong> effet tunnel, soit à travers les défauts <strong>de</strong> l’oxy<strong>de</strong> (hypothèse quisemble la plus raisonnable compte t<strong>en</strong>u <strong>de</strong> la discussion du chapitre III).En fait, comme nous verrons à la fin <strong>de</strong> ce chapitre, même pour un échantillon non oxydé, il existetoujours une énergie seuil <strong>de</strong> quelques eV au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus du niveau <strong>de</strong> Fermi et au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> laquelleα(ε ) est <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 1. Ce résultat suggère que la d<strong>en</strong>sité d’état à ces énergies est très supérieure <strong>de</strong>celle à basse énergie, et révèle <strong><strong>de</strong>s</strong> informations sur la structure électronique du SC à quelques eV au<strong><strong>de</strong>s</strong>sus du niveau <strong>de</strong> Fermi.Enfin, afin <strong>de</strong> t<strong>en</strong>ir compte du transport dans le SC, nous supposerons que tout électronfranchissant l’interface métal/SC au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus d’une énergie seuilφ T, pourra crée dans le SC unepaire électron-trou <strong>par</strong> le mécanisme d’ionisation <strong>par</strong> impact. Il a été démontré expérim<strong>en</strong>talem<strong>en</strong>t<strong>par</strong> cathodoluminesc<strong>en</strong>ce [Bréchet89] au laboratoire et <strong>par</strong> bombar<strong>de</strong>m<strong>en</strong>t <strong>de</strong> <strong>par</strong>ticules α[Kobayashi72] que dans le GaAs ce processus <strong>de</strong>vi<strong>en</strong>t très efficace (probabilité <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 1) à <strong>par</strong>tird’une énergie, référ<strong>en</strong>cée <strong>par</strong> rapport au minimum <strong>de</strong> la ban<strong>de</strong> <strong>de</strong> conduction <strong>de</strong> 4.35 eV, soit uneénergie d’<strong>en</strong>viron 5 eV <strong>par</strong> rapport au niveau <strong>de</strong> Fermi du métal.Un électron d’énergieε à l’interface métal/SC, crée un nombre total d’électrons secondaires dans leGaAs donné <strong>par</strong> la relation :114
Chapitre V – Modélisation du transport d’électrons chauds polarisés <strong>de</strong> spinεn( ε ) =(V.1)φTA cause <strong>de</strong> l’exist<strong>en</strong>ce d’une zone <strong>de</strong> déplétion, toute paire électron-trou formée à proximité <strong>de</strong>l’interface sera sé<strong>par</strong>ée <strong>par</strong> le <strong>champ</strong> électrique imposé <strong>par</strong> la barrière <strong>de</strong> Schottky [Eklund92], etdonc, pourra contribuer à un courant collecté dans le SC. C’est <strong>en</strong> quelque sorte l’analogue avec <strong><strong>de</strong>s</strong>électrons <strong>de</strong> l’effet photovoltaïque.En général, l’ionisation <strong>par</strong> impact est négligeable à basse énergie d’injection, mais ne peut plus êtr<strong>en</strong>égligée lorsque l’énergie moy<strong>en</strong>ne <strong>de</strong> la distribution <strong>de</strong>vi<strong>en</strong>t <strong>de</strong> l’ordre <strong>de</strong>φ T. Cet effet, bi<strong>en</strong> quesouv<strong>en</strong>t négligé pour cette raison, est cep<strong>en</strong>dant <strong>en</strong>visagé dans l’étu<strong>de</strong> théorique du transportd’électrons chauds dans les expéri<strong>en</strong>ces <strong>de</strong> BEEM [Prietsch95] et a été observé dans ces systèmes pour<strong><strong>de</strong>s</strong> t<strong>en</strong>sions <strong>de</strong> polarisation supérieures à 4.5 eV.En résumé, nous avons représ<strong>en</strong>té sur la figure (Fig.V.2), l’<strong>en</strong>semble <strong><strong>de</strong>s</strong> mécanismes <strong>de</strong> transportdans la base métallique et le SC, <strong>en</strong> incluant le profil du coeffici<strong>en</strong>t d’interface avec les énergies seuilintroduites ci <strong><strong>de</strong>s</strong>sus.Fig.V.2 : Représ<strong>en</strong>tation <strong><strong>de</strong>s</strong> différ<strong>en</strong>ts mécanismes <strong>de</strong> transport dans le filtre à spin. Un électronqui pénètre dans le filtre à spin relaxe son énergie <strong>en</strong> créant une casca<strong>de</strong> d’électrons secondaires.(1) : l’électron secondaire a une énergie trop faible pour traverser l’interface. (2) : l’électronpasse au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> la barrière <strong>de</strong> Schottky avec un faible coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission. (3)l’électron a suffisamm<strong>en</strong>t d’énergie pour traverser la barrière φ Set φTavec un coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong>transmission élevé. Il est susceptible <strong>de</strong> créer dans le SC une casca<strong>de</strong> d’électrons secondaires <strong>par</strong>ionisation <strong>par</strong> impact électronique.L’allure du profil du coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission est alors schématiquem<strong>en</strong>t le suivant :Au <strong><strong>de</strong>s</strong>sous <strong>de</strong> la barrière <strong>de</strong> Schottky φB(égale à 0.7 eV, cf. Chapitre III) les électrons ne peuv<strong>en</strong>têtre transmis, et le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission est quasi nul. Entre φ Bet φ Sle coeffici<strong>en</strong>t αBestfaible, <strong>de</strong> l’ordre <strong>de</strong> 10 -4 . Au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong>φ S(que nous pr<strong>en</strong>ons <strong>par</strong> la suite égale à 4.5 eV, valeur dugap <strong>de</strong> l’oxy<strong>de</strong> Ga 2 O 3 ) , l’interface <strong>de</strong>vi<strong>en</strong>t passante et le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission αSest <strong>proche</strong><strong>de</strong> 0.5.Le coeffici<strong>en</strong>t <strong>de</strong> transmission à l’interface peut donc être assimilé à la succession <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux filtrespasse-haut <strong>en</strong> énergie. Nous avons caractérisé ces filtres <strong>par</strong> leur énergie seuil φ et leur gain α.Par la suite, ces barrières seront dites non multiplicatives.115