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Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

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Chapitre V – Modélisation du transport d’électrons chauds polarisés <strong>de</strong> spinChapitre VModélisation du transport d’électrons chauds polarisés <strong>de</strong> spindans les structures métal ferromagnétique/semi-conducteurCe chapitre développe le modèle original <strong>de</strong> transport d’électrons chauds polarisés <strong><strong>de</strong>s</strong>pin dans les structures métal/semi-conducteur <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> l’énergie d’injection. Cemodèle pr<strong>en</strong>d <strong>en</strong> compte les effets <strong>de</strong> casca<strong>de</strong> d’électrons secondaires dans le métal etla dép<strong>en</strong>dance <strong>en</strong> énergie <strong>de</strong> l’efficacité <strong>de</strong> collection à l’interface MF/SC ainsi quel’ionisation <strong>par</strong> impact dans le SC. La distribution <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons à la jonction est calculée.Trois contributions sont traitées sé<strong>par</strong>ém<strong>en</strong>t : la distribution d’électrons secondaires, ladistribution d’électrons primaires (relaxés) <strong>de</strong> spin majoritaire et la distribution d’électronsprimaires (relaxés) <strong>de</strong> spin minoritaire. Il est démontré que ces trois distributions ont <strong><strong>de</strong>s</strong>largeurs <strong>en</strong> énergie différ<strong>en</strong>tes. En <strong>par</strong>ticulier, les électrons primaires <strong>de</strong> spin majoritaire, quisont les moins diffusés, form<strong>en</strong>t la distribution la plus large. Le modèle r<strong>en</strong>d comptequalitativem<strong>en</strong>t et quantitativem<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> différ<strong>en</strong>ts régimes <strong>de</strong> transport mis <strong>en</strong> évid<strong>en</strong>ce <strong>par</strong>l’étu<strong>de</strong> expérim<strong>en</strong>tale <strong>de</strong> la transmission <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong> l’énergie d’injection dans lesjonctions métal ferromagnétique / semi-conducteur. Ces régimes sont reliés à la variation<strong>par</strong>ticulière du libre <strong>par</strong>cours moy<strong>en</strong>s <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons avec l’énergie et à la structure « <strong>en</strong>paliers » <strong>de</strong> la barrière à la jonction <strong>en</strong>tre le métal et le semi-conducteur. Il existe <strong><strong>de</strong>s</strong> énergiesseuil à <strong>par</strong>tir <strong><strong>de</strong>s</strong>quelles l’efficacité <strong>de</strong> collection augm<strong>en</strong>te brutalem<strong>en</strong>t. Du point <strong>de</strong> vue dutransport, ce profil <strong>en</strong> paliers <strong>de</strong> l’interface agit comme une succession <strong>de</strong> filtres passe-haut<strong>en</strong> énergie. Expérim<strong>en</strong>talem<strong>en</strong>t, il est possible <strong>de</strong> son<strong>de</strong>r ce profil <strong>en</strong> augm<strong>en</strong>tant l’énergie <strong><strong>de</strong>s</strong>électrons incid<strong>en</strong>ts.109

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