Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.Sachant que la figure <strong>de</strong> mérite est optimale pour une énergie E <strong>proche</strong> <strong>de</strong> E*, c’est-à-dire lorsque Test <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 1, on peut <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t obt<strong>en</strong>ir une majoration <strong>de</strong> la figure <strong>de</strong> mérite intrinsèque d<strong>en</strong>otre instrum<strong>en</strong>t (avec E * ≈ 500 eV, et φ ≈ 5 eV):F i2 φ ≤ E * ≈ 10−4(IV.13)L’échantillon 1 prés<strong>en</strong>te une figure <strong>de</strong> mérite légèrem<strong>en</strong>t inférieure à 10 -4 , et semble donc <strong>proche</strong> <strong>de</strong> lavaleur maximale. L’échantillon 2 d’épaisseur plus gran<strong>de</strong>, et donc possédant un E* plus important,prés<strong>en</strong>te une figure <strong>de</strong> mérite optimale plus faible. Ces résultats montr<strong>en</strong>t donc <strong>en</strong> <strong>par</strong>ticulier que lasélectivité intrinsèque du filtre à spin est <strong>proche</strong> <strong>de</strong> 100% même à haute énergie d’injection. La figure<strong>de</strong> mérite <strong>de</strong> l’instrum<strong>en</strong>t est cep<strong>en</strong>dant faible.L’origine physique <strong>de</strong> cette limite provi<strong>en</strong>t du fait que la sélectivité <strong>en</strong> spin <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>test diluée <strong>par</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> électrons secondaires qui ne porte aucune mémoire du spin <strong><strong>de</strong>s</strong> électronsincid<strong>en</strong>ts.Ainsi, avec une telle structure d’échantillon, il semble difficile, dans l’état actuel <strong><strong>de</strong>s</strong> connaissances,d’améliorer significativem<strong>en</strong>t les performances <strong>de</strong> notre transistor. Cep<strong>en</strong>dant, nous p<strong>en</strong>sons que lalimite imposée <strong>par</strong> l’équation IV.13 peut être levée <strong>en</strong> travaillant avec une autre géométried’échantillon. En effet, pour le mom<strong>en</strong>t, la sélectivité <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t est limitée, car lamultiplication a lieu <strong>en</strong>tre la source à électrons polarisés et l’analyse (couche magnétique du filtre àspin). Pourtant, pour <strong><strong>de</strong>s</strong> raisons qui ont été évoqués plus haut, la fonction <strong>de</strong> Sherman intrinsèque dufiltre à spin S ne semble pas altérée, même à haute énergie d’injection (E** = 1500 eV pourl’échantillon 1, et ΔT = 30%). L’effet <strong>de</strong> filtre à spin est <strong>en</strong> quelque sorte « sous exploité » avec unéchantillon prés<strong>en</strong>tant une seule couche magnétique.En modifiant la structure <strong>de</strong> l’échantillon, il serait donc possible, <strong>en</strong> principe, <strong>de</strong> bénéficier à lafois d’une forte transmission, et d’une forte sélectivité <strong>en</strong> spin à haute énergie d’injection,r<strong>en</strong>dant ainsi la figure <strong>de</strong> mérite <strong>proche</strong> <strong>de</strong> sa valeur optimale qui est <strong>de</strong> 1.Dans le chapitre VI (conclusion et perspectives), nous décrirons les pot<strong>en</strong>tialités d’une bicouchemagnétique fonctionnant à haute énergie d’injection comme vanne <strong>de</strong> spin performante.4.C.3.3. Com<strong>par</strong>aison avec <strong><strong>de</strong>s</strong> élém<strong>en</strong>ts vannes <strong>de</strong> spin reposant sur la GMRNous com<strong>par</strong>ons dans ce <strong>par</strong>agraphe l’évolution du SNR <strong>de</strong> notre transistor avec un élém<strong>en</strong>t vanne <strong><strong>de</strong>s</strong>pin commercial reposant sur la magnéto-résistance géante (GMR) introduite au chapitre II.Nous avons représ<strong>en</strong>té sur la figure (Fig.IV.31) la figure <strong>de</strong> mérite <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t (opérant àl’énergie E max , calculé pour chaque I 0 ) <strong>en</strong> fonction du courant incid<strong>en</strong>t I 0 , et celle <strong><strong>de</strong>s</strong> vannes <strong>de</strong> spinactuellem<strong>en</strong>t utilisées dans le commerce. Nous y avons égalem<strong>en</strong>t inclus à titre <strong>de</strong> com<strong>par</strong>aison, lafigure <strong>de</strong> mérite SNR in (in pour inélastique) maximale qu’il est possible d’obt<strong>en</strong>ir avec un transistor àélectrons chauds, obt<strong>en</strong>ue lorsque T = S = 1 (équation IV.12). Dans les vannes <strong>de</strong> spin utiliséesactuellem<strong>en</strong>t dans les têtes <strong>de</strong> lecture, le bruit est donné <strong>par</strong> les fluctuations thermiques <strong>de</strong> la résistanceR <strong>de</strong> l’élém<strong>en</strong>t. Ceci est valable pour les têtes <strong>de</strong> lecture reposant sur la GMR (géométrie CIP ou CPP)ou la TMR [Freitas07]. La figure <strong>de</strong> mérite d’une vanne <strong>de</strong> spin s’exprime alors sous la forme :2 2F ΔR RIVS 0= R 4 kTΔνPour une vanne <strong>de</strong> spin actuellem<strong>en</strong>t utilisée pour le stockage <strong>de</strong> l’information (w = 100 nm, h = 120nm, t = 27 nm, R = 20 Ω, I 0 = 1 mA, GMR = 50% , 100 Gbit/in 2 ), on déduit un SNR <strong>de</strong> 134 dB. Pourles mêmes conditions nous obt<strong>en</strong>ons avec notre instrum<strong>en</strong>t un SNR <strong>de</strong> 116 dB. Cette faiblesse du SNRr<strong>en</strong>d à l’heure actuelle les transistors à électrons chauds, moins performants, <strong>en</strong> tout cas dans lesconditions <strong>de</strong> fonctionnem<strong>en</strong>t actuel <strong><strong>de</strong>s</strong> têtes <strong>de</strong> lecture.Cep<strong>en</strong>dant, on peut remarquer que le SNR décroît plus vite <strong>en</strong> fonction du courant dans les dispositifstype vannes <strong>de</strong> spin à GMR que pour un transistor à électrons chauds, <strong>de</strong> sorte qu’il existe un courant à106
Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.<strong>par</strong>tir duquel il <strong>de</strong>vi<strong>en</strong>t moins avantageux, <strong>en</strong> terme <strong>de</strong> rapport signal sur bruit, <strong>de</strong> travailler avec <strong><strong>de</strong>s</strong>vannes <strong>de</strong> spin à base <strong>de</strong> GMR. A titre d’indication, la figure <strong>de</strong> mérite d’un élém<strong>en</strong>t vanne <strong>de</strong> spin àGMR croise la figure <strong>de</strong> mérite <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t pour un courant I 0 = 3.10 -5 A.Fig. IV.31 : Evolution <strong>de</strong> SNR (rapport signal sur bruit) <strong>en</strong> fonction du courant incid<strong>en</strong>t pour :notre transistor (SNR échantillon 1), un élém<strong>en</strong>t vanne <strong>de</strong> spin (SNR VS ), et un transistor àélectrons chauds <strong>de</strong> figure <strong>de</strong> mérite maximale (SNR in ).Par ailleurs, la figure (Fig IV.31) montre que dans les conditions actuelles <strong>de</strong> fonctionnem<strong>en</strong>t d’unevanne <strong>de</strong> spin, le SNR maximal que l’on puisse obt<strong>en</strong>ir avec un transistor à électron chaud est <strong>de</strong> 160dB, ce qui est nettem<strong>en</strong>t supérieur à la valeur <strong>de</strong> celui d’un élém<strong>en</strong>t <strong>de</strong> mémoire actuel reposant sur laGMR. Ce résultat qualitatif <strong>en</strong>courage donc la poursuite <strong><strong>de</strong>s</strong> efforts dans le développem<strong>en</strong>t d’untransistor à électrons chauds à large figure <strong>de</strong> mérite.Cette différ<strong>en</strong>ce <strong>de</strong> comportem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la figure <strong>de</strong> mérite vis-à-vis du courant incid<strong>en</strong>t provi<strong>en</strong>t <strong>de</strong> ladiffér<strong>en</strong>ce dans la nature du bruit limitant la mesure. Dans les vannes <strong>de</strong> spin reposant sur la GMR,les résistances sont faibles <strong>de</strong> sorte que c’est le bruit thermique <strong>en</strong> courant qui limite la mesure. Cebruit est indép<strong>en</strong>dant du courant, et dép<strong>en</strong>d <strong><strong>de</strong>s</strong> dim<strong>en</strong>sions du dispositif. Dans les transistors àélectrons chauds, c’est le bruit <strong>de</strong> gr<strong>en</strong>aille du courant incid<strong>en</strong>t (qui dans notre cas peut-être annulé à T= 1), et celui du courant transmis au <strong><strong>de</strong>s</strong>sus <strong>de</strong> la barrière qui limite la mesure. Ce bruit dép<strong>en</strong>d ducourant incid<strong>en</strong>t et possè<strong>de</strong> la <strong>par</strong>ticularité d’être indép<strong>en</strong>dant <strong><strong>de</strong>s</strong> dim<strong>en</strong>sions du filtre à spin, tant queJ SAT .s < I 0 , hypothèse largem<strong>en</strong>t vérifiée pour <strong><strong>de</strong>s</strong> petites sections.En pratique, plusieurs critères physiques détermin<strong>en</strong>t le choix <strong>de</strong> la valeur du courant I 0 . Un critèreimportant est la dissipation <strong>par</strong> effet Joule. Si l’on souhaite travailler avec une puissance Joule2RI0surfacique constante, i.e. P S= = constante, alors <strong>en</strong> géométrie CPP, le courant I 0 varie commeSla surface, c'est-à-dire, qu’une diminution d’un facteur 10 dans l’ext<strong>en</strong>sion latérale <strong>de</strong> l’élém<strong>en</strong>t <strong>de</strong>mémoire induit une perte d’un facteur 100 sur le courant I 0 <strong>de</strong> lecture.Remarquons cep<strong>en</strong>dant, que pour une même dissipation, notre instrum<strong>en</strong>t doit travailler avec <strong>de</strong> plusfaibles courants, car il fonctionne à une t<strong>en</strong>sion beaucoup plus élevée (une c<strong>en</strong>taine <strong>de</strong> volts).Un calcul complet, qui dép<strong>en</strong>d <strong>de</strong> l’application visée, est donc nécessaire pour déterminer quelsystème sera le plus performant.107