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Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

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Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>. Les <strong>par</strong>amètres ajustables liés aux conditions d’opération du transistor : le courant incid<strong>en</strong>t I 0 ,la polarisation P 0 , l’énergie d’injection E 0 , la ban<strong>de</strong> passante Δν, et la surface s du filtre à spin. Les <strong>par</strong>amètres caractéristiques du transistor : la fonction <strong>de</strong> Sherman S , la transmission T etle courant <strong>de</strong> saturation J SAT . Les <strong>de</strong>ux premiers <strong>par</strong>amètres dép<strong>en</strong>d<strong>en</strong>t <strong>de</strong> l’énergie d’injection(<strong>par</strong>amètres ajustables) ; le <strong>de</strong>rnier <strong><strong>de</strong>s</strong> propriétés électriques <strong>de</strong> la jonction.L’objectif <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>par</strong>agraphes suivants est <strong>de</strong> montrer comm<strong>en</strong>t l’<strong>en</strong>semble <strong>de</strong> ces expressions évolue <strong>en</strong>fonction <strong>de</strong> l’énergie d’injection E 0 et du courant incid<strong>en</strong>t I 0 .4.C.2. Evolution <strong>de</strong> F i B,C avec l’énergie d’injection E 0 et le courant incid<strong>en</strong>t I 0Nous allons dans un premier temps nous intéresser à l’évolution <strong><strong>de</strong>s</strong> figures <strong>de</strong> mérite intrinsèques <strong>en</strong>fonction <strong>de</strong> l’énergie d’injection. En variant l’énergie d’injection, on modifie les <strong>par</strong>amètres S et T dufiltre à spin. Nous avons représ<strong>en</strong>té sur la figure (Fig.IV.28) les figures <strong>de</strong> mérite intrinsèques F i B,C ,pour l’échantillon 1, ainsi que celle obt<strong>en</strong>ue dans le cas où J SAT = 0. Ces courbes montr<strong>en</strong>t qu’il estpossible <strong>de</strong> varier significativem<strong>en</strong>t les figures <strong>de</strong> mérite intrinsèques du filtre à spin <strong>en</strong> changeantsimplem<strong>en</strong>t l’énergie d’injection.Pour l’<strong>en</strong>semble <strong><strong>de</strong>s</strong> échantillons analysés, il existe <strong>de</strong> façon générale, une énergie E max pour laquelleF i passe <strong>par</strong> un maximum F i max . La valeur optimale <strong>de</strong> F i ainsi que la valeur E max dép<strong>en</strong>d<strong>en</strong>t du courant<strong>de</strong> saturation (Fig.IV.28). La prés<strong>en</strong>ce du courant <strong>de</strong> saturation dégra<strong>de</strong> <strong>en</strong> général les figures <strong>de</strong>mérite du transistor. Ce courant a pour effet d’une <strong>par</strong>t d’augm<strong>en</strong>ter l’énergie d’opération E max pourlaquelle F i est maximale, et d’autre <strong>par</strong>t d’abaisser la valeur optimale <strong>de</strong> F i .Fig.IV.28 : Evolution <strong><strong>de</strong>s</strong> figures <strong>de</strong> mérite intrinsèques du transistor F B,Ci <strong>en</strong> fonction <strong>de</strong>l’énergie d’injection pour l’échantillon 1 pour un courant incid<strong>en</strong>t <strong>de</strong> 100 nA. Mise <strong>en</strong> évid<strong>en</strong>ced’une énergie d’injection optimale E max . Cette énergie d’injection optimale dép<strong>en</strong>d du courant<strong>de</strong> saturation.Ces effets peuv<strong>en</strong>t se compr<strong>en</strong>dre <strong>en</strong> considérant une expression simplifiée <strong>de</strong> la figure <strong>de</strong> mérite (dansle cas où SP 0 E max (I SAT = 0). Ce résultat102

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