Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.4. Performances du transistor <strong>en</strong> terme <strong>de</strong> rapport signal sur bruit. Limites<strong><strong>de</strong>s</strong> performancesL’objectif <strong>de</strong> cette section est <strong>de</strong> prés<strong>en</strong>ter les performances <strong>en</strong> terme <strong>de</strong> rapport signal sur bruit d<strong>en</strong>otre instrum<strong>en</strong>t et <strong>de</strong> les com<strong>par</strong>er à celles <strong><strong>de</strong>s</strong> MTT introduits au chapitre II. Expérim<strong>en</strong>talem<strong>en</strong>t,cette étu<strong>de</strong> poursuit les travaux sur l’origine <strong><strong>de</strong>s</strong> bruits, <strong>en</strong>trepris p<strong>en</strong>dant la thèse <strong>de</strong> NicolasRougemaille [Rougemaille03].Dans les précéd<strong>en</strong>tes sections, nous avons prés<strong>en</strong>té les performances <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t <strong>en</strong> terme d<strong>en</strong>iveau <strong>de</strong> signal (r<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la source à électrons, efficacité d’injection dans l’échantillon, gain etdép<strong>en</strong>dance <strong>en</strong> spin du gain du transistor). Dans les conditions <strong>de</strong> mesure imposées <strong>par</strong> l’expéri<strong>en</strong>ce,notre instrum<strong>en</strong>t doit être capable <strong>de</strong> mesurer sur une jonction d’impédance finie <strong><strong>de</strong>s</strong> courants variant<strong>de</strong> plusieurs dizaines <strong>de</strong> fA, jusqu’à une dizaine <strong>de</strong> A.Cette section se compose ess<strong>en</strong>tiellem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux <strong>par</strong>ties. Dans la première nous discuterons <strong>de</strong> lanature <strong><strong>de</strong>s</strong> bruits limitant la mesure. Ces bruits sont alors classés selon trois origines : Les bruits liés à la source à électrons. Les bruits liés à la jonction. Les bruits introduits <strong>par</strong> la mesure.Dans une secon<strong>de</strong> <strong>par</strong>tie, nous calculons la figure <strong>de</strong> mérite généralisée d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spindans un régime <strong>de</strong> forte multiplication. Cette définition nous permettra alors d’obt<strong>en</strong>ir l’énergied’opération optimale <strong>en</strong> fonction <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>par</strong>amètres contrôlables <strong>de</strong> notre transistor.Nous com<strong>par</strong>ons alors ces résultats à ceux obt<strong>en</strong>us dans les conditions d’opération standards d’unMTT, ainsi qu’a ceux d’une vanne <strong>de</strong> spin utilisée dans les têtes <strong>de</strong> lecture commerciales.4.A. Notion <strong>de</strong> rapport signal sur bruitUn <strong>par</strong>amètre important qui caractérise les performances <strong>de</strong> tout dispositif est le rapport signal surbruit <strong>de</strong> la mesure (que l’on désignera <strong>par</strong> la suite SNR (« Signal to Noise Ratio »)). Nous appelons ici« signal » la gran<strong>de</strong>ur physique qui véhicule l’information d’intérêt. Dans notre cas, l’informationportée <strong>par</strong> le spin, est véhiculée <strong>par</strong> un courant électrique qui forme la base <strong>de</strong> notre signal.De façon très générale, à ce signal, se superpos<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> signaux qui port<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> informations autres, qu<strong>en</strong>ous appellerons <strong>par</strong> la suite bruits. Ces bruits, ont <strong><strong>de</strong>s</strong> origines diverses, et peuv<strong>en</strong>t prov<strong>en</strong>ir, <strong>par</strong>exemple, <strong>de</strong> la nature même du signal d’intérêt, ou <strong>en</strong>core <strong>de</strong> la mesure effectuée sur celui-ci, qui, <strong>en</strong>générale s’accompagne d’une amplification. Si l’on ne dispose pas d’informations supplém<strong>en</strong>taires surces signaux <strong>par</strong>asites, ces bruits s’ajout<strong>en</strong>t simplem<strong>en</strong>t à notre signal, et détérior<strong>en</strong>t le rapport signalsur bruit. Une étu<strong>de</strong> du bruit <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t <strong>de</strong>man<strong>de</strong> <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t <strong>de</strong> connaître à la fois lessources <strong>de</strong> bruit intrinsèques à l’instrum<strong>en</strong>t, ainsi que ceux liés au choix <strong>de</strong> la mesure.Enfin, il est utile <strong>de</strong> distinguer les sources <strong>de</strong> bruit selon leur nature. Les bruits peuv<strong>en</strong>t êtredéterministes ou aléatoires (irréductibles). Les bruits déterministes peuv<strong>en</strong>t <strong>en</strong> principe toujours êtreréduit un niveau faible, et ne sont <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t pas intrinsèques à l’instrum<strong>en</strong>t. Ces bruits sontnombreux dans notre expéri<strong>en</strong>ce, et <strong>par</strong>fois, difficilem<strong>en</strong>t contrôlables. Ils sont <strong>par</strong> exemple <strong>de</strong> lalumière <strong>par</strong>asite, qui peut contribuer à un courant dans la jonction Schottky, <strong><strong>de</strong>s</strong> dérives d’int<strong>en</strong>sité dulaser, le bruit <strong><strong>de</strong>s</strong> alim<strong>en</strong>tations, ou <strong>en</strong>core <strong><strong>de</strong>s</strong> couplages électromagnétiques (ou capacitifs) avecl’extérieur. Les couplages électromagnétiques donn<strong>en</strong>t lieu <strong>en</strong> pratique à un signal dérivé du 50 Hz 9 .Les bruits aléatoires sont quant à eux <strong><strong>de</strong>s</strong> signaux imprévisibles contre lesquelles il est <strong>en</strong> principe plusdifficile d’agir. Ils fix<strong>en</strong>t alors les performances intrinsèques d’un ap<strong>par</strong>eil.Dans notre cas, ils sont liés à la nature même du courant qui constitue notre signal. En effet, uncourant électrique étant transporté <strong>par</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> porteurs ayant une charge finie, son int<strong>en</strong>sité n’est définie9 Dans notre expéri<strong>en</strong>ce (et bi<strong>en</strong> que la mesure soit faite dans une <strong>en</strong>ceinte métallique), ce signal est d’<strong>en</strong>viron 30pA. Ce signal provi<strong>en</strong>t <strong>de</strong> l’alim<strong>en</strong>tation haute t<strong>en</strong>sion, du couplage électromagnétique dans la boucle <strong>de</strong> courant,et d’autre <strong>par</strong>t du faisceau d’électrons qui se propage dans les pot<strong>en</strong>tiels <strong>de</strong> l’optique électronique qui incorpore,<strong>par</strong> leur alim<strong>en</strong>tation, une composante du 50 Hz.94
Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.qu’<strong>en</strong> valeur moy<strong>en</strong>ne ; valeur autour <strong>de</strong> laquelle se produis<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> fluctuations d’int<strong>en</strong>sité. L’originephysique <strong>de</strong> ces fluctuations est diverse (bruit thermique, bruit <strong>de</strong> gr<strong>en</strong>aille, bruit <strong>de</strong> scintillation…) etconfère au bruit <strong><strong>de</strong>s</strong> caractéristiques <strong>par</strong>ticulières. Ces bruits sont <strong>de</strong> valeur moy<strong>en</strong>ne nulle, et sontdéfinis <strong>par</strong> leur d<strong>en</strong>sité spectrale bf(ν ) . Leur valeur quadratique moy<strong>en</strong>ne est indép<strong>en</strong>dante du temps,et s’exprime sous la forme :2νmax∫bt = bf( ν ) dν0Cette somme exprime simplem<strong>en</strong>t le fait que les d<strong>en</strong>sités spectrales à <strong>de</strong>ux fréqu<strong>en</strong>ces différ<strong>en</strong>tes sontnon corrélées <strong>en</strong>tre elles. Cette additivité <strong><strong>de</strong>s</strong> gran<strong>de</strong>urs quadratiques est égalem<strong>en</strong>t valable pour <strong><strong>de</strong>s</strong>signaux aléatoires non corrélés. C’est pour cette raison que l’étu<strong>de</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> sources <strong>de</strong> bruit aléatoires,peut être faite indép<strong>en</strong>damm<strong>en</strong>t les unes <strong><strong>de</strong>s</strong> autres.4.B. Sources <strong>de</strong> bruit dans notre transistor4.B.1. Bruits <strong>de</strong> la sourceLa source à électrons délivre un courant d’électrons d’int<strong>en</strong>sité↑0↑0↓0↓02↑ ↓0= I0+ I0I et <strong>de</strong>I − Ipolarisation P0= . Quelque soit leur polarisation, les électrons sortant <strong>de</strong> la source doiv<strong>en</strong>tI + Ifranchir la barrière <strong>de</strong> pot<strong>en</strong>tiel du vi<strong>de</strong> (abaissée <strong>par</strong> l’activation). Les fluctuations d’int<strong>en</strong>sité <strong>de</strong>courant sont alors données <strong>par</strong> la formule <strong>de</strong> Schottky (dans une ban<strong>de</strong> passante Δ ν ) [Solomon] :↑↓2↑↓δI 0= 2eI0Δν(IV. 7)Ce bruit <strong>de</strong> gr<strong>en</strong>aille ou « shot Noise », est un bruit blanc <strong>de</strong> d<strong>en</strong>sité spectrale constante. A <strong>par</strong>tir <strong>de</strong> larelation IV. 7, on peut alors calculer les fluctuations <strong>de</strong> I 0 et <strong>de</strong> P 0 à <strong>par</strong>tir <strong>de</strong> la formule <strong>de</strong> propagation<strong><strong>de</strong>s</strong> erreurs :22⎛⎞⎜ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞⎜∂↑2⎜∂↓22 I0 ⎟I0 ⎟⎜( δI⎟0) = δI+↑ 0δI↓ 0⎟⎜ ⎝ ∂I0 ⎠ ⎝ ∂I0 ⎠ ⎟22⎜ ⎛ ⎞ ⎛ ⎞ ⎟⎜ ⎜∂↑2⎟ ⎜∂↓22 P0P0( δP=+ ⎟ ⎟0) δI↑ 0δI↓ 0⎝ ⎝ ∂I0 ⎠ ⎝ ∂I0 ⎠ ⎠On obti<strong>en</strong>t ainsi :2⎛ ( δI⎞0) = 2eΔνI0⎜⎟⎜ 2 4eΔν2⎟( δP0) = (1 − P0)⎝ I0 ⎠Pour un courant incid<strong>en</strong>t <strong>de</strong> 100 nA, les fluctuations <strong>de</strong> courant injecté dans l’échantillon pour uneban<strong>de</strong> passante <strong>de</strong> 2000 Hz (cette ban<strong>de</strong> passante est fixée <strong>par</strong> nos picoampèremètres) sont <strong>de</strong> l’ordre<strong>de</strong> 8 pA rms. Cette valeur est nettem<strong>en</strong>t supérieure aux valeurs que nous souhaitons mesurer à basseénergie d’injection (plusieurs dizaines <strong>de</strong> fA) et <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t le bruit <strong>de</strong> gr<strong>en</strong>aille <strong>de</strong> la sourceconstitue une première source <strong>de</strong> bruit irréductible. Ce bruit correspond au bruit irréductible <strong>de</strong> lasource. En pratique on mesure un bruit supérieur à cette valeur. Le bruit supplém<strong>en</strong>taire provi<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong>fluctuations du laser, et <strong><strong>de</strong>s</strong> fluctuations <strong>de</strong> la t<strong>en</strong>sion appliquée à la catho<strong>de</strong>, qui produit <strong>par</strong>conséqu<strong>en</strong>t un courant source bruité. Nous appellerons dorénavant ΔI0ce bruit définit sur une ban<strong>de</strong>passante <strong>de</strong> 1Hz.95