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Etudes par microscopie en champ proche des phénomènes de ...

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Chapitre IV – Réalisation d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spin sous ultra-vi<strong>de</strong>.4. Performances du transistor <strong>en</strong> terme <strong>de</strong> rapport signal sur bruit. Limites<strong><strong>de</strong>s</strong> performancesL’objectif <strong>de</strong> cette section est <strong>de</strong> prés<strong>en</strong>ter les performances <strong>en</strong> terme <strong>de</strong> rapport signal sur bruit d<strong>en</strong>otre instrum<strong>en</strong>t et <strong>de</strong> les com<strong>par</strong>er à celles <strong><strong>de</strong>s</strong> MTT introduits au chapitre II. Expérim<strong>en</strong>talem<strong>en</strong>t,cette étu<strong>de</strong> poursuit les travaux sur l’origine <strong><strong>de</strong>s</strong> bruits, <strong>en</strong>trepris p<strong>en</strong>dant la thèse <strong>de</strong> NicolasRougemaille [Rougemaille03].Dans les précéd<strong>en</strong>tes sections, nous avons prés<strong>en</strong>té les performances <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t <strong>en</strong> terme d<strong>en</strong>iveau <strong>de</strong> signal (r<strong>en</strong><strong>de</strong>m<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la source à électrons, efficacité d’injection dans l’échantillon, gain etdép<strong>en</strong>dance <strong>en</strong> spin du gain du transistor). Dans les conditions <strong>de</strong> mesure imposées <strong>par</strong> l’expéri<strong>en</strong>ce,notre instrum<strong>en</strong>t doit être capable <strong>de</strong> mesurer sur une jonction d’impédance finie <strong><strong>de</strong>s</strong> courants variant<strong>de</strong> plusieurs dizaines <strong>de</strong> fA, jusqu’à une dizaine <strong>de</strong> A.Cette section se compose ess<strong>en</strong>tiellem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> <strong>de</strong>ux <strong>par</strong>ties. Dans la première nous discuterons <strong>de</strong> lanature <strong><strong>de</strong>s</strong> bruits limitant la mesure. Ces bruits sont alors classés selon trois origines : Les bruits liés à la source à électrons. Les bruits liés à la jonction. Les bruits introduits <strong>par</strong> la mesure.Dans une secon<strong>de</strong> <strong>par</strong>tie, nous calculons la figure <strong>de</strong> mérite généralisée d’un transistor à vanne <strong>de</strong> spindans un régime <strong>de</strong> forte multiplication. Cette définition nous permettra alors d’obt<strong>en</strong>ir l’énergied’opération optimale <strong>en</strong> fonction <strong><strong>de</strong>s</strong> <strong>par</strong>amètres contrôlables <strong>de</strong> notre transistor.Nous com<strong>par</strong>ons alors ces résultats à ceux obt<strong>en</strong>us dans les conditions d’opération standards d’unMTT, ainsi qu’a ceux d’une vanne <strong>de</strong> spin utilisée dans les têtes <strong>de</strong> lecture commerciales.4.A. Notion <strong>de</strong> rapport signal sur bruitUn <strong>par</strong>amètre important qui caractérise les performances <strong>de</strong> tout dispositif est le rapport signal surbruit <strong>de</strong> la mesure (que l’on désignera <strong>par</strong> la suite SNR (« Signal to Noise Ratio »)). Nous appelons ici« signal » la gran<strong>de</strong>ur physique qui véhicule l’information d’intérêt. Dans notre cas, l’informationportée <strong>par</strong> le spin, est véhiculée <strong>par</strong> un courant électrique qui forme la base <strong>de</strong> notre signal.De façon très générale, à ce signal, se superpos<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> signaux qui port<strong>en</strong>t <strong><strong>de</strong>s</strong> informations autres, qu<strong>en</strong>ous appellerons <strong>par</strong> la suite bruits. Ces bruits, ont <strong><strong>de</strong>s</strong> origines diverses, et peuv<strong>en</strong>t prov<strong>en</strong>ir, <strong>par</strong>exemple, <strong>de</strong> la nature même du signal d’intérêt, ou <strong>en</strong>core <strong>de</strong> la mesure effectuée sur celui-ci, qui, <strong>en</strong>générale s’accompagne d’une amplification. Si l’on ne dispose pas d’informations supplém<strong>en</strong>taires surces signaux <strong>par</strong>asites, ces bruits s’ajout<strong>en</strong>t simplem<strong>en</strong>t à notre signal, et détérior<strong>en</strong>t le rapport signalsur bruit. Une étu<strong>de</strong> du bruit <strong>de</strong> notre instrum<strong>en</strong>t <strong>de</strong>man<strong>de</strong> <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t <strong>de</strong> connaître à la fois lessources <strong>de</strong> bruit intrinsèques à l’instrum<strong>en</strong>t, ainsi que ceux liés au choix <strong>de</strong> la mesure.Enfin, il est utile <strong>de</strong> distinguer les sources <strong>de</strong> bruit selon leur nature. Les bruits peuv<strong>en</strong>t êtredéterministes ou aléatoires (irréductibles). Les bruits déterministes peuv<strong>en</strong>t <strong>en</strong> principe toujours êtreréduit un niveau faible, et ne sont <strong>par</strong> conséqu<strong>en</strong>t pas intrinsèques à l’instrum<strong>en</strong>t. Ces bruits sontnombreux dans notre expéri<strong>en</strong>ce, et <strong>par</strong>fois, difficilem<strong>en</strong>t contrôlables. Ils sont <strong>par</strong> exemple <strong>de</strong> lalumière <strong>par</strong>asite, qui peut contribuer à un courant dans la jonction Schottky, <strong><strong>de</strong>s</strong> dérives d’int<strong>en</strong>sité dulaser, le bruit <strong><strong>de</strong>s</strong> alim<strong>en</strong>tations, ou <strong>en</strong>core <strong><strong>de</strong>s</strong> couplages électromagnétiques (ou capacitifs) avecl’extérieur. Les couplages électromagnétiques donn<strong>en</strong>t lieu <strong>en</strong> pratique à un signal dérivé du 50 Hz 9 .Les bruits aléatoires sont quant à eux <strong><strong>de</strong>s</strong> signaux imprévisibles contre lesquelles il est <strong>en</strong> principe plusdifficile d’agir. Ils fix<strong>en</strong>t alors les performances intrinsèques d’un ap<strong>par</strong>eil.Dans notre cas, ils sont liés à la nature même du courant qui constitue notre signal. En effet, uncourant électrique étant transporté <strong>par</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> porteurs ayant une charge finie, son int<strong>en</strong>sité n’est définie9 Dans notre expéri<strong>en</strong>ce (et bi<strong>en</strong> que la mesure soit faite dans une <strong>en</strong>ceinte métallique), ce signal est d’<strong>en</strong>viron 30pA. Ce signal provi<strong>en</strong>t <strong>de</strong> l’alim<strong>en</strong>tation haute t<strong>en</strong>sion, du couplage électromagnétique dans la boucle <strong>de</strong> courant,et d’autre <strong>par</strong>t du faisceau d’électrons qui se propage dans les pot<strong>en</strong>tiels <strong>de</strong> l’optique électronique qui incorpore,<strong>par</strong> leur alim<strong>en</strong>tation, une composante du 50 Hz.94

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