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Etudes de cristaux liquides colonnaires en solution organique et en ...

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4.2. MONTAGE EXPÉRIMENTALmanifeste par la fonction <strong>de</strong> troncature F CT R (⃗q) qui se caractérise par un étirem<strong>en</strong>t du pic<strong>de</strong> Bragg selon la direction (O z ).Pour m<strong>et</strong>tre <strong>en</strong> évi<strong>de</strong>nce ce phénomène, nous étudions <strong>de</strong>ux films minces <strong>de</strong> Py4CEH,organisés selon un ancrage planaire 11 , d’épaisseur 380 <strong>et</strong> 820 nm. Nous représ<strong>en</strong>tons les pics<strong>de</strong> Bragg associés à c<strong>et</strong>te organisation. Ainsi le “pic planaire”, situé sur l’axe (O Q ⊥ ), estreprés<strong>en</strong>té sur la figure 4.12. La figure 4.13 est associée au “pic 60”. Ce pic <strong>de</strong> Bragg est situéà ϕ = 60˚<strong>de</strong> l’axe Q ⊥ .Nous constatons que, indép<strong>en</strong>damm<strong>en</strong>t <strong>de</strong> la réflexion du substrat, le pic <strong>de</strong> Bragg estélargi selon une direction (O z ). Pour quantifier c<strong>et</strong> élargissem<strong>en</strong>t, une intégration <strong>de</strong> type I= f(Q ⊥ ) est effectuée afin <strong>de</strong> comparer la largeur à mi-hauteur <strong>en</strong>tre les <strong>de</strong>ux films minces.Ainsi, sur le tableau 4.4, nous remarquons que moins le film est épais, plus la largeur du pic<strong>de</strong> Bragg augm<strong>en</strong>te. Par ailleurs, bi<strong>en</strong> que ces films soi<strong>en</strong>t organisés dans un réseau hexagonalà longue portée, nous remarquons que la largeur à mi hauteur <strong>de</strong>s pics “planaire” <strong>et</strong> “60” estbi<strong>en</strong> supérieur à celle du faisceau direct (figure 4.14).Par conséqu<strong>en</strong>t, l’élargissem<strong>en</strong>t <strong>de</strong>s pics <strong>de</strong> Bragg m<strong>et</strong> <strong>en</strong> évi<strong>de</strong>nce l’eff<strong>et</strong> <strong>de</strong> taille finie<strong>de</strong>s films selon la direction Q ⊥ .0.1 nm-1 0,32 0,34 0,36 0,38 0,40 0,421FWHM = 0,00880,1I(u.a)0,011E-3Q(Å -1 )Fig. 4.12 – Intégration du type I = f(Q ⊥ ) pour le “pic planaire” sur le film <strong>de</strong> 820 nmd’épaisseur.11élaboré par spin coating120

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