Etudes de cristaux liquides colonnaires en solution organique et en ...

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4.2. MONTAGE EXPÉRIMENTAL θ exp (˚) 2α (˚)0.35 0.7720.25 0.6320.1 0.286Tab. 4.2 – Correspondance entre l’angle d’incidence θ exp et l’angle 2α qui sépare le pic deBragg du pic satellite.θ = 0.35 0.25 0.10.3 nmFig. 4.8 – Mise en évidence de la réflexion du substrat sur un film mince colonnaire d’uneépaisseur de 600 nm. Les valeurs de l’incidence correspondent à θ exp .Airfaisceauincidentθfaisceauspéculaire2θ B- α2θ B+ αfaisceauspéculaire2θ BFilm mincecolonnaire2 θ BααSubstratFig. 4.9 – Représentation schématique de la réflexion du faisceau incident sur le substrat.116
CHAPITRE 4. ETUDE DE FILMS MINCES DE CRISTAUX LIQUIDESCOLONNAIRES EN DIFFRACTION DES RAYONS X EN INCIDENCE RASANTEincidence (θ cor˚) 0.32 0.17 0.07ϕ (˚) SAXS 83 84 86ϕ (˚) WAXS 87 - -intensité moyenne (u.a) 637 1462 3040Tab. 4.3 – Ce tableau représente la valeur de ϕ correspondant à l’intensité maximale du picde Bragg dans les configurations SAXS et WAXS ainsi que l’intensité moyenne obtenue àpartir de l’agrandisement de la figure 4.11.4.2.6 Effet d’ombreExpérimentalement, nous avons mis en évidence un effet d’ombre sur le détecteur. Cetteombre provient de l’incidence du faisceau de rayons X (selon θ) sur l’échantillon.Pour mettre en évidence l’effet d’ombre du substrat, nous prenons le cliché de diffractiond’un film mince de Py4CEH (figure 4.10). Ce film est étudié sous trois incidences différentes :0.07, 0.17 et 0.32˚. Nous constatons la présence d’un pic de Bragg sur l’axe Q // . Pour lestrois incidences étudiées, nous représentons sur la figure 4.11 une zone délimitée autour dupic de Bragg. En utilisant la méthode décrite dans le paragraphe 4.2.4, nous effectuons uneintégration angulaire. L’intensité maximale du pic de Bragg est repérée par l’angle ϕ.Tout d’abord, nous constatons sur le tableau 4.3 que l’effet d’ombre du substrat estplus marqué dans la configuration SAXS que dans la configuration WAXS. De plus, nousremarquons que l’angle ϕ croit lorsque l’incidence diminue. En effet, ϕ est de 83˚ sous uneincidence de 0.32˚puis augmente jusqu’à 86˚sous une incidence proche de 0.07˚. Par ailleurs,nous pouvons comparer l’intensité intégrée moyenne à chaque incidence. Nous constatonsque celle-ci chute lorsque l’incidence augmente.Ces deux observations révèlent l’effet d’ombre du substrat ; lorsque l’incidence augmente,le substrat coupe le signal des rayons réfléchis à sa surface. Or, le plus souvent nous travaillonsà des incidences de 0.17˚ et 0.32˚. Ainsi, il faut donc garder en mémoire que, dans cesconditions, l’effet d’ombre du substrat est présent sur les clichés expérimentaux obtenus.117
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RemerciementsAu cours de ces trois
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AbréviationsMatériaux citésHHTT
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3 Etude des cristaux liquides colon
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IntroductionDepuis la révolution i
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Dans le premier chapitre, nous intr
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