Etudes de cristaux liquides colonnaires en solution organique et en ...

4.2. MONTAGE EXPÉRIMENTALtiquement tout le film mince car les “wafers” de silicium utilisés ont une taille de 1 pouce,c’est-à-dire un diamètre de 25.4 mm.e v☛✕θlFig. 4.3 – Représentation schématique de l’empreinte du faisceau, figurée par un trait enpointillé, sur le film mince.4.2.4 Correction des imagesLes clichés “bruts” de diffraction ne sont pas directement exploitables. La caméra CCD etla géométrie de l’expérience sont à l’origine de biais expérimentaux contenus dans les images.Toutefois, il est possible de les rectifier. Ainsi, dans ce paragraphe, nous allons expliquer laméthode suivie pour corriger les clichés de diffraction.Dans un premier temps, nous corrigeons la distorsion de la grille de la caméra CCD. Ilest aussi important de soustraire le signal du bruit de fond. Le programme bm2img 6 permetd’effectuer ces deux opérations [79].Dans un second temps, les corrections, dues à la géométrie de l’expérience, sont apportées.La caméra CCD n’est pas rigoureusement perpendiculaire à l’axe du faisceau. De ce fait, uncercle apparaît sur le détecteur comme une ellipse. Pour mettre en lumière ce phénomène,nous faisons une intégration angulaire à partir d’une figure de diffraction (figure 4.4). Deuxraies de Bragg sont observées. L’ intégration angulaire se fait à q (100) fixé et nous appelons ϕl’angle d’intégration qui varie de 0 à 90˚. La zone d’intégration est délimitée par une bornelimite inférieure et supérieure en q. Une représentation schématique de cette intégrationangulaire est représentée sur la figure 4.4.6 développé par les responsables de la ligne110