Etudes de cristaux liquides colonnaires en solution organique et en ...

Chapitre 4Etude de films minces de cristauxliquides colonnaires en diffraction desrayons X en incidence rasante4.1 La diffraction des rayons X en incidence rasante4.1.1 Le choix de cette techniqueNous avons utilisé la diffraction des rayons X en incidence rasante pour sonder la structuredes films minces. Cette technique, non destructive, est bien adaptée à l’étude de couches dequelques dizaines de nanomètres d’épaisseur. Elle permet, en effet, de caractériser la structureverticale et horizontale de ces films.4.1.2 PrincipeLorsqu’un faisceau de rayons X est dirigé sur un film mince colonnaire porté par unsubstrat, deux faisceaux diffusés sont recueillis. Le premier provient de la diffusion par levolume du substrat, et le second de la diffusion par la surface et le film mince colonnaire.Dans une géométrie quelconque, la diffusion en volume du substrat est trop forte et masquele signal provenant de la surface et du film. Pour minimiser le signal du substrat, nousnous plaçons en incidence rasante (Grazing Incidence X-ray Diffraction, GIXD). Le faisceau103