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Circuits et systemes de modelisation analogique de neurones ...

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Chapitre III : circuits intégrés réalisés.Les échantillonneurs-bloqueurs sont constitués d'un con<strong>de</strong>nsateur <strong>et</strong> d'un interrupteur<strong>analogique</strong>. Les <strong>de</strong>ux points prépondérants dans notre cas sont les problèmes d'injection <strong>de</strong>charges qui grèvent la précision du stockage, <strong>et</strong> <strong>de</strong> courants <strong>de</strong> fuite dont dépend le temps <strong>de</strong>maintien. Nous n'avons pas r<strong>et</strong>enu <strong>de</strong> circuits complexes visant à contrôler les niveaux <strong>de</strong>ssignaux <strong>de</strong> comman<strong>de</strong> ou à contrebalancer l'injection <strong>de</strong> charge. Ces types <strong>de</strong> montage ont unfonctionnement souvent aléatoire ou augmentent énormément la surface <strong>de</strong> silicium. Ce<strong>de</strong>rnier point étant aussi un <strong>de</strong>s critères majeurs <strong>de</strong> notre conception, nous avons préféré unmontage simple avec <strong>de</strong>s paramètres paraissant raisonnables.Le con<strong>de</strong>nsateur <strong>de</strong> stockage a une capacité fixée à 1 pF, compromis entre une valeur plusélevée qui améliorerait le temps <strong>de</strong> maintien <strong>et</strong> la surface nécessaire (14,6 m x 14,6 m avecl'anneau <strong>de</strong> polarisation <strong>de</strong> caisson). Les mesures réalisées sur le circuit "annie", qui utilisait lamême valeur, ont démontré un taux <strong>de</strong> décharge maximum <strong>de</strong> 0,65 V/s. L'impédance trèsélevée d'un transistor MOS bloqué n'entraîne pas <strong>de</strong> courant <strong>de</strong> fuite important, même enconduction sous le seuil. Il est donc inutile <strong>de</strong> m<strong>et</strong>tre en œuvre <strong>de</strong> lourds circuits visant àobtenir un blocage "profond" <strong>de</strong> ces transistors. En fait, la décharge provient, à priori, plutôt<strong>de</strong>s jonctions bipolaires en inverses <strong>de</strong>s connexions <strong>de</strong> drains/sources.Les schémas utilisant <strong>de</strong>s transistors fantômes pour annuler l'injection d'un interrupteurNMOS semblent peu efficaces, nous préférons donc un interrupteur CMOS que nouscomman<strong>de</strong>rons avec <strong>de</strong>s signaux bien contrôlés. La fréquence <strong>de</strong> rafraîchissement étantrelativement faible, le temps d'établissement n'est pas critique <strong>et</strong> il n'est pas nécessaire <strong>de</strong>minimiser l'impédance résiduelle <strong>de</strong>s interrupteurs. Nous utilisons donc <strong>de</strong>s transistors d<strong>et</strong>aille minimale qui minimisent la charge stockée ce qui réduit l'injection <strong>de</strong> charge lors dublocage. C<strong>et</strong>te taille réduit aussi la surface <strong>de</strong>s jonctions <strong>de</strong> contacts drain/source <strong>et</strong> donc lescourants <strong>de</strong> fuites. Les signaux <strong>de</strong> comman<strong>de</strong> du NMOS <strong>et</strong> du PMOS proviennent d'une porte"ET" suivie d'une chaîne d'inverseurs <strong>de</strong>stinée à équilibrer les charges capacitives. Lesinverseurs qui comman<strong>de</strong>nt directement les <strong>de</strong>ux transistors MOS "voient" une même chargecorrespondant à une grille d'un MOS <strong>de</strong> taille minimale. C<strong>et</strong>te structure perm<strong>et</strong> d'obtenir <strong>de</strong>sfronts <strong>de</strong> même largeur ce qui est favorable au réarrangement <strong>de</strong>s charges entre NMOS <strong>et</strong>PMOS, limitant ainsi l'injection dans le con<strong>de</strong>nsateur <strong>de</strong> stockage.Compte tenu du dimensionnement choisi <strong>et</strong> <strong>de</strong>s paramètres technologiques fournis par lefon<strong>de</strong>ur, nous pouvons évaluer les valeurs maximales <strong>de</strong> l'injection <strong>de</strong> charge :128

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