Thèse Sofiane ATROUS - ESIGELEC

Chapitre 1 : Etat de l’artsurface d’un composant ou d’une carte électronique [4] et [20]. Ces méthodes permettent lalocalisation des sources de perturbations (standard « IEC 61967-3 »).Générateurde perturbationsSonde d’émissionElément sous testFigure 24 : Banc de mesure en immunité champ procheLe principe de ces méthodes consiste à mesurer les différentes composantes du champélectromagnétique à l’aide d’une sonde placée parallèlement ou perpendiculairement à la surfacede l’élément sous test. Le déplacement mécanique de la sonde permet d’estimer la répartition deschamps sur toute la surface de l’élément sous test. Actuellement de nouveaux travaux sont encours pour utiliser cette méthode de mesure en immunité (Figure 24). Le principe consiste àremplacer la sonde utilisée précédemment comme récepteur par une antenne émettrice dans le butde tester les parties susceptibles d’un composant ou d’une carte électronique et d’établir le niveaud’immunité.Le banc d’injection mis en place par A. Boyer [21] est semblable au banc d’injection en modeconduit présenté précédemment dans la méthode DPI. La perturbation harmonique est induite parle rayonnement d’une sonde placée au-dessus d’un composant (Figure 25). Pour chaque point dela surface cartographiée, il est nécessaire de faire varier la puissance et la fréquence du signalinjecté dans la sonde et de regarder si le critère de défaillance est atteint.S. Atrous Page 37