Thèse Sofiane ATROUS - ESIGELEC

Table des matièresII.2.1.1. L’approximation Quasi‐TEM ______________________________________________76II.2.1.2. La permittivité diélectrique _______________________________________________77II.2.1.3. Impédance caractéristique d’une ligne microruban ____________________________79II.2.2. Affaiblissement dans une ligne microruban _______________________________________80II.2.2.1. Pertes dans le conducteur________________________________________________80II.2.2.2. Pertes dans le diélectrique _______________________________________________81II.2.2.3. Pertes par rayonnement : ________________________________________________81II.3. Résolution des équations du couplage par l’utilisation de la formulation de BLT ____________82II.3.1. Excitation du circuit imprimé par une onde plane __________________________________83II.3.1.1. Champ électrique horizontal à la surface du diélectrique _______________________84II.3.1.2. Champ électrique vertical dans le substrat___________________________________85II.3.2. Expressions analytiques de la tension au niveau des charges _________________________86III. Validation et application du modèle ___________________________________________ 87III.1. Validation du modèle avec une excitation uniforme __________________________________88III.1.1. Validation du modèle par comparaison avec des méthodes numériques _____________88III.1.2. Validation du modèle par comparaison avec des mesures _________________________91III.1.2.1. La cellule TEM _________________________________________________________91III.1.2.1.1. Description de la cellule ______________________________________________92III.1.2.1.2. Simulation électromagnétique de la Cellule_______________________________94III.1.2.1.3. Les différentes mesures effectuées avec la cellule TEM _____________________95III.1.2.2. Description du banc de mesure et résultats __________________________________98III.2. Validation du modèle avec une excitation non uniforme ______________________________104III.2.1. Principe des mesures et simulations en champ proche___________________________104Figure ______________________________________________________________________105III.2.2. La procédure de validation_________________________________________________105III.2.3. Comparaisons mesures/simulations _________________________________________108III.2.4. Comparaisons avec le modèle d’Agrawal _____________________________________109III.2.5. La limite de la validité de la modélisation analytique ____________________________111Conclusion _______________________________________________________________ 114Bibliographies ____________________________________________________________ 116CHAPITRE 3 : CARACTERISATION DES COMPOSANTS EN IMMUNITE CHAMP PROCHE___ 120Introduction _____________________________________________________________ 121I. Banc de mesure en champ proche____________________________________________ 122I.1.I.2.Description du banc de mesure __________________________________________________122Les sondes utilisées ___________________________________________________________125S. Atrous Page 10