Sources X par interaction laser - plasma - UniversitÃ© Bordeaux 1

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Double spectromètre XLigne X multi-keV large bandeCristal KAP #1 : spectre transmisDétecteur XEchantillon AlSource XCristal KAP #2 : spectre incident06/05/08 FD - Journée IPF "<strong>Sources</strong> X : de la production aux applications" 26
Al 1 µmMesures de spectres XANESFlanc K Al = 1.559 keVLigne X multi-keV large bandeEspaceAl 2 O 3 2000 Å2 3Flanc K Al = 1.564 keVEnergie XReference06/05/08 FD - Journée IPF "<strong>Sources</strong> X : de la production aux applications" 27
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