Sources X par interaction laser - plasma - Université Bordeaux 1
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Spectroscopie p d’absorption X « fine »• Spectroscopie d’absorption X près des seuils=> accès à l’ordre atomique local d’un échantillonLigne X multi-keV large bandeSpectre X incident (cible Erbium)Alu 1 µmSpectre X transmisflanc K AlSignal Xflanc K AlSignal X1,52 1,54 1,56 1,58 1,6 1,62 1,64 1,66Energie photon X (keV)structuresspectrales1,52 1,54 1,56 1,58 1,6 1,62 1,64 1,66Energie photon X (keV)– Flanc K de l’Aluminium pour commencer=> source X large bande adaptée (1.5 - 1.7 keV)06/05/08 FD - Journée IPF "<strong>Sources</strong> X : de la production aux applications" 24
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