Sources X par interaction laser - plasma - Université Bordeaux 1
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Les diagnostics X adaptés• Spectromètres X haute résolution (cristaux de Bragg)– Couverture du domaine multi-keVp– Résolution ~ 1 eV, gamme ~ 300 eVSpectros Bragg, MatriX, Streak FX• Spectromètres short-range X large Order bande (comptage Electron ultra-fast de photon)DYnamics in Phase transition from solid to WDM– Détecteur matriciel, diodes, scintillateurs + PM– Résolution ~ 100 eV, (soumis gamme en de 2008) 1 à 25 keV, jusqu’à 500 keVF. Dorchies• Caméra à balayage de fente XCf. exposé de Franck Gobet– Résolution temporelle = 0.8 ps rms– Couplage possible avec spectromètre haute résolution06/05/08 FD - Journée IPF "<strong>Sources</strong> X : de la production aux applications" 16
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