Minéralogie, porosité et diffusion des solutés dans l'argilite du ...

201 CHAPITRE 5
3.3.3 Profils de Cu acquis en microsonde électronique
Les 2 profils M(x) de Cu obtenus à partir des cartes A et B sont pratiquement
superposables (Fig. 5.35). Afin de comparer les profils acquis en microLIBS et microsonde
électronique, les fortes concentrations en Cu localisées prés de l’interface solide / liquide
(pyrite et possibles précipitations prés de l’interface) n’ont pas été prises en compte. La figure
5.36 montre que ces zones représentent la moitié de la masse du Cu prés de l’interface, ce qui
pourrait influencer significativement les résultats d’ajustement analytique. Les profils A et B
ont été fusionnés afin de conserver la résolution du profil A (2 µm/pixel) jusqu’à 150 µm et la
profondeur d’investigation du profil B (1 mm).
M(Cu) (%)
0,5
0,4
0,3
0,2
0,1
0
Carte A
Carte B
0 200 400 600 800 1000
distance (µm)
Fig. 5.35: Profils de Cu (cartes A et B) acquis à partir d’analyses microsondes électroniques
pour l’échantillon EST 26059 après diffusion du Cu 2+ et imprégnation par la résine MMA.
M(Cu) (%)
0,8
0,6
0,4
0,2
0
0 50 100 150
distance (µm)
avec pyrite
sans pyrite
Fig. 5.36 : Comparaison des profils de Cu calculés avec et sans tenir compte des zones riches
en Cu (majoritairement des phases pyriteuses).