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Minéralogie, porosité et diffusion des solutés dans l'argilite du ...

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190 CHAPITRE 5<br />

concentration en Cu (ppm)<br />

3000<br />

2500<br />

2000<br />

1500<br />

1000<br />

500<br />

0<br />

MA<br />

(a) (b)<br />

Fig. 2.24 : Profils de concentration en Cu traversant (a) un quartz <strong>et</strong> (b) un carbonate. La<br />

décroissance <strong>du</strong> Cu de la matrice argileuse (MA) vers le quartz est progressive. C<strong>et</strong>te<br />

décroissance ayant une portée de l’ordre de 10µm (flèches sur les graphique), elle est<br />

probablement associée à la portée latérale <strong>des</strong> émissions de rayons X <strong>du</strong> Cu lors de l’analyse<br />

(cf. § 2.1.2).<br />

Portée latéral<br />

<strong>des</strong> émissions<br />

RX <strong>du</strong> Cu<br />

QUARTZ MA<br />

0 10 20 30 40<br />

distance (µm)<br />

(a) (b)<br />

Fig. 5.25 : Zone 3 : comparaison de (a) la carte <strong>du</strong> Cu avec (b) l’image MEB en mode BSE à<br />

l’interface argilite/MMA (44× 26µm²) <strong>et</strong> mise en évidence de zone riche en Cu sans<br />

1250<br />

1000<br />

explication significative sur l’image MEB en mode BSE.<br />

Q<br />

750<br />

500<br />

250<br />

0<br />

MA CARBONATE MA<br />

0 10 20 30 40<br />

distance (µm)<br />

MA<br />

Résine<br />

10 µm

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