MR thèse 2006-21 - Bibliothèque Ecole Centrale Lyon

Chapitre II – Evaluation du Nettoyage
100
90
80
% de performance
70
60
50
40
30
20
10
0
Hexanios
G+R
Salvanios
pH 10
Aniosyme
PLA II
Aniosyme
DD1
Aniosyme
N2
Figure II-1 : PND de formulations détergentes et/ou pré-désinfectantes avec la salissure
CP+20%MG. Les PND sont effectués dans les Laboratoires ANIOS de Lille
Cette méthodologie permet d’établir un classement de ces formulations en fonction de leur efficacité visà-vis
des protéines. Elle est également utile pour étudier les effets synergiques ou antagonistes qui
peuvent exister entre les différentes molécules qui composent la formulation.
Un inconvénient de cette méthode est la nécessité de devoir éluer les protéines de la surface dans une
solution de récupération afin de pouvoir les doser. Bien que le rendement d’élution vis-à-vis de la BSA
soit évalué à 98,6 ± 0,4 %, il ne peut être représentatif du rendement d’élution de toutes les protéines.
Cette méthode est également limitée par sa sensibilité puisqu’elle permet un dosage des protéines totales
dans une gamme de valeurs comprises entre 0,5 et 20 µg/ml.
III. LES APPROCHES SURFACIQUES
Le moyen le plus pertinent pour évaluer l’efficacité du nettoyage est de s’intéresser à la surface ellemême
et de mettre en évidence la présence de résidus (protéiques ou non) après nettoyage. Pour cela,
deux techniques d’analyses ont été envisagées, la spectroscopie de photoélectrons et le marquage des
protéines à l’iode radioactif ( 125 I).
III.1. La spectroscopie de photoélectrons
La spectroscopie de photoélectrons (XPS) est une technique d’analyse chimique de la surface des solides.
Sa profondeur d’analyse est inférieure à 10 nm. Son principe est basé sur l’effet photoélectrique, c’est-àdire
l’émission d’un électron sous l’impact d’un photon X. L’XPS est définie comme une technique
d’analyse de l’extrême surface en raison de l’existence du libre parcours moyen des électrons dans la
matière. En effet, lors du transfert de l’électron vers la surface à travers le solide, celui-ci peut subir des
chocs inélastiques. Le libre parcours moyen, défini comme la distance moyenne entre deux chocs, joue
donc un rôle prépondérant en limitant l’épaisseur analysée.
L’XPS permet :
- Une analyse élémentaire et qualitative de la surface puisque tous les électrons des couches
électroniques de cœur ou de valence, dont l'énergie de liaison est inférieure à l’énergie des
photoélectrons incidents, peuvent être extraits, sauf l’hydrogène. L’énergie de liaison caractérise
un électron d’un niveau électronique d’un atome donné, ce qui permet l’identification
élémentaire. Sa sensibilité est de l’ordre de 0,1 à 0,5% atomique ;
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