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MR thèse 2006-21 - Bibliothèque Ecole Centrale Lyon

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Annexe 1 – La Spectroscopie de Photoélectrons<br />

électronique des atomes (effet Auger ou photoémission). De ce fait, l’identification de ces pics au travers<br />

de leur position en énergie permet d’accéder à la composition élémentaire de l’échantillon.<br />

II. CARACTERISTIQUES DE L’XPS<br />

II.1. Généralités<br />

L'absorption du rayonnement X conduit à la photoionisation de l'atome, c'est-à-dire à l'extraction d'un<br />

électron des couches profondes. Le système se trouve alors dans un état excité. Plusieurs processus de<br />

désexcitation sont possibles: la fluorescence X et l'effet Auger. Sous l'action du faisceau incident,<br />

l'électron est excité vers un état d'énergie E 0 . S'il arrive à la surface sans subir de chocs inélastiques, il<br />

conserve son énergie E 0 qui correspond au pic principal de photoémission (I). L'électron peut subir un<br />

choc inélastique et perdre une quantité d'énergie ∆E 0 (II) ou subir plusieurs chocs et devenir un électron<br />

secondaire (III).<br />

Figure A1-2 : Photoémission des électrons<br />

Figure A1-3 : Distribution des photoélectrons<br />

Après absorption d'un photon d'énergie hν, la conservation de l’énergie et la mesure de l’énergie<br />

cinétique des électrons émis (E C ), permettent d'accéder à l’énergie de liaison E B , caractéristique de<br />

l'atome émetteur. Les spectres sont présentés en fonction de E B .<br />

hν = E + E + φ A<br />

C<br />

B<br />

E C : énergie cinétique de l'électron émis dans le vide.<br />

E B : énergie de liaison de l'électron émis (binding energy).<br />

φ A : travail de sortie de l'analyseur.<br />

Equation A1-1 : Conservation de l’énergie lors de la photoémission d’un électron.<br />

II.2. Quantitatif<br />

Cette technique permet d’avoir accès à l’état de valence de l’atome qui traduit son environnement<br />

chimique. La bonne modélisation du phénomène de photoémission permet l’analyse quantitative. Cette<br />

méthode permet donc une analyse quantitative élémentaire et chimique. L'intensité du pic photoélectrique<br />

d'un élément pour une couche d'épaisseur z et homogène en composition est fonction de sa concentration:<br />

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