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Baziz Meriem magister.pdf - Université des Sciences et de la ...

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I. Techniques utilisées pour l’analyse <strong><strong>de</strong>s</strong> échantillons<br />

I.1. Spectroscopie infrarouge<br />

C<strong>et</strong>te métho<strong>de</strong> d’analyse est basée sur les propriétés vibrationnelles <strong><strong>de</strong>s</strong> liaisons<br />

interatomiques. Les spectres IR renseignent sur <strong>la</strong> nature <strong><strong>de</strong>s</strong> groupes fonctionnels présents<br />

dans les substances chimiques. Les échantillons sont préparés sous forme <strong>de</strong> pastille par<br />

dispersion dans le KBr.<br />

I.2. Diffraction <strong><strong>de</strong>s</strong> rayons X<br />

La diffraction RX, a été utilisée pour déterminer les distances interfoliaires <strong><strong>de</strong>s</strong><br />

poudres <strong>de</strong> sépiolites <strong>et</strong> l'état <strong>de</strong> dispersion <strong>de</strong> c<strong>et</strong>te <strong>de</strong>rnière dans les matériaux<br />

nanocomposites. La métho<strong>de</strong> consiste à envoyer un faisceau <strong>de</strong> rayons X <strong>de</strong> longueur d'on<strong>de</strong> λ<br />

diriger sur l'échantillon. Le signal diffracté est ensuite analysé.<br />

Pour chaque angle d'inci<strong>de</strong>nce du faisceau correspond une intensité du signal diffracté<br />

qui se manifeste par un pic <strong>de</strong> diffraction <strong>de</strong> rayon X. L’angle <strong>de</strong> diffraction (2θ) est<br />

déterminé par <strong>la</strong> distance entre les p<strong>la</strong>ns <strong>de</strong> diffraction (d), qui sont calculées à l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> <strong>la</strong><br />

re<strong>la</strong>tion <strong>de</strong> Braag : λ =2dsin θ.<br />

d = distance entre <strong>de</strong>ux p<strong>la</strong>ns (À).<br />

θ = angle d'inci<strong>de</strong>nce <strong><strong>de</strong>s</strong> rayons X (°).<br />

λ = longueur d'on<strong>de</strong> <strong><strong>de</strong>s</strong> rayons X inci<strong>de</strong>nts (Â).<br />

Les diffractogrammes ont était obtenue avec <strong>de</strong>ux types d’appareil :<br />

Les échantillons ont été analysés sur un diffractomètre à rayon X <strong>de</strong> type Phillips<br />

PW1830 <strong>et</strong> PW70 utilisant <strong><strong>de</strong>s</strong> anticatho<strong><strong>de</strong>s</strong> en cuivre (λ=1.54056 <strong>et</strong> λ=1.54178)<br />

respectivement.<br />

I.3. Analyse gravimétrique différentielle ATG<br />

C<strong>et</strong>te technique d'analyse perm<strong>et</strong> d'enregistrer <strong>la</strong> variation <strong>de</strong> <strong>la</strong> masse d'un échantillon<br />

lorsqu'il est soumis à une variation linéaire <strong>de</strong> température. Le matériau à analyser est p<strong>la</strong>cé<br />

dans une nacelle en p<strong>la</strong>tine accrochée à une ba<strong>la</strong>nce <strong>de</strong> précision qui est introduite dans un<br />

four pour soum<strong>et</strong>tre ce <strong>de</strong>rnier à un cycle <strong>de</strong> température al<strong>la</strong>nt <strong>de</strong> <strong>la</strong> température ambiante<br />

jusqu'à un maximum <strong>de</strong> 1000°C, <strong>la</strong> variation <strong>de</strong> son poids est mesurée en fonction <strong>de</strong> <strong>la</strong><br />

température.

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