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Applications<br />

Identification de pièce / inspection de défaut<br />

Mesures /<br />

Recherche de corps étrangers<br />

dans des gorges de pistons<br />

Succès<br />

Contrôle du revêtement des<br />

joints formés en place<br />

Succès<br />

Identifi cation<br />

de bielles<br />

incorrectes<br />

Succès<br />

Automobile / métallurgie<br />

Échec<br />

Inspection des faisceaux électriques des<br />

moteurs et contrôle des défauts<br />

de soudure<br />

Succès<br />

Échec*<br />

Éclat<br />

*Rupture du revêtement<br />

Échec*<br />

Inspection de la cavité des<br />

moules d’arbres à cames<br />

Succès<br />

*Diamètre et<br />

longueur totale<br />

différents<br />

Contrôle de la position des pièces<br />

dans les matrices de forgeage à chaud<br />

Échec*<br />

Succès<br />

Échec*<br />

*Défaut du<br />

faisceau<br />

*Mauvaise position de la pièce<br />

Alimentaire, pharmacie et autres<br />

Recherche de<br />

défaut sur le<br />

fond de boîtes<br />

de boisson<br />

Recherche<br />

d’éclats sur<br />

des goulots<br />

de bouteille<br />

Éclat<br />

Contrôle<br />

intérieur de<br />

récipients<br />

Détection<br />

de gobelets<br />

déformés<br />

Tache<br />

Joint<br />

Contrôle des étiquettes (position/aspect)<br />

Mesure dimensionnelle de goulots de<br />

bouteille<br />

Déchirure<br />

Contrôle visuel de DEL à<br />

puce (CMS)<br />

Image brute<br />

Contrôle multidirectionnel de<br />

<strong>com</strong>posants électroniques<br />

Alignement des LCD<br />

Tache<br />

Électricité/électronique<br />

Contrôle visuel des<br />

condensateurs<br />

à puce<br />

La tache est<br />

extraite de<br />

façon stable.<br />

Image fi ltrée<br />

Image brute<br />

Image fi ltrée<br />

Contrôle visuel<br />

d’oscillateurs en cristal<br />

Succès<br />

Présence de salissure<br />

et de cache déplacé<br />

Un cercle virtuel est déterminé à partir<br />

de l’arc partiel d’un wafer afi n de<br />

calculer la<br />

position du<br />

centre du<br />

wafer.<br />

Nouvel algorithme de<br />

détection de cercle<br />

(outil de contour<br />

évolutif)<br />

6 Systèmes de vision de la série CV

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