Contribution à la conception optimale en terme de linéarité et ...
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CHAPITRE I – OUTILS DE MODELISATION, DE CARACTERISATION ET D’ANALYSE NON-LINEAIRE<br />
I.5. - CONCLUSION<br />
Ce premier chapitre prés<strong>en</strong>te les outils mis <strong>à</strong> <strong>la</strong> disposition <strong>de</strong>s ingénieurs <strong>de</strong><br />
<strong>conception</strong> pour réaliser <strong>de</strong>s fonctions électroniques non linéaires. Des simu<strong>la</strong>tions précises ne<br />
peuv<strong>en</strong>t être <strong>en</strong>visagées qu’avec l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> modèles, <strong>de</strong> caractérisations <strong>et</strong> <strong>de</strong> métho<strong>de</strong>s<br />
d’analyses adaptées.<br />
Les bancs actuels <strong>de</strong> caractérisation perm<strong>et</strong>t<strong>en</strong>t <strong>de</strong> faire <strong>de</strong>s modélisations fines du<br />
transistor. Grâce aux mesures hyperfréqu<strong>en</strong>ce <strong>en</strong> impulsions, <strong>de</strong>s modèles incluant les eff<strong>et</strong>s<br />
dispersifs tel que les eff<strong>et</strong>s <strong>de</strong> pièges <strong>et</strong> les eff<strong>et</strong>s thermiques ont été développés. Une étu<strong>de</strong><br />
basée sur ce type <strong>de</strong> modèle nous a permis <strong>de</strong> m<strong>et</strong>tre <strong>en</strong> évid<strong>en</strong>ce l’influ<strong>en</strong>ce non négligeable<br />
<strong>de</strong> ces différ<strong>en</strong>ts eff<strong>et</strong>s sur <strong>la</strong> <strong>linéarité</strong> <strong>à</strong> travers le rapport C/I 3.<br />
La validité <strong>de</strong>s modèles non linéaires ne peut être <strong>en</strong>visagée qu’<strong>à</strong> l’ai<strong>de</strong> <strong>de</strong> mesures<br />
complém<strong>en</strong>taires. Ces mesures sont généralem<strong>en</strong>t effectuées <strong>à</strong> une <strong>et</strong> <strong>de</strong>ux porteuses sur <strong>de</strong>s<br />
bancs <strong>de</strong> mesures load-pull multiharmonique.<br />
Toutefois, les systèmes <strong>de</strong> caractérisation fonctionnelle non-linéaire <strong>en</strong><br />
fonctionnem<strong>en</strong>t <strong>à</strong> une <strong>et</strong> <strong>de</strong>ux porteuses ne sont pas suffisant pour caractériser<br />
conv<strong>en</strong>ablem<strong>en</strong>t <strong>la</strong> <strong>linéarité</strong> d’un amplificateur excité par <strong>de</strong>s signaux modulés.<br />
Le développem<strong>en</strong>t <strong>de</strong> banc <strong>de</strong> caractérisation multiporteuse offre donc <strong>de</strong> nouvelles<br />
perspectives. Au cours <strong>de</strong> ce chapitre nous avons déj<strong>à</strong> pu vali<strong>de</strong>r l’approche que nous avons<br />
utilisée <strong>en</strong> simu<strong>la</strong>tion.<br />
Pour <strong>la</strong> simu<strong>la</strong>tion <strong>de</strong> circuit fonctionnant <strong>en</strong> régime multiporteuse, une nouvelle<br />
technique s’impose. C<strong>et</strong>te technique, le transitoire d’<strong>en</strong>veloppe, perm<strong>et</strong> <strong>la</strong> simu<strong>la</strong>tion <strong>de</strong><br />
signaux modulés avec un temps <strong>et</strong> coût <strong>de</strong> calcul raisonnable. Grâce <strong>à</strong> elle, nous avons pu<br />
nous intéresser <strong>à</strong> l’analyse <strong>en</strong> NPR <strong>de</strong> transistor.<br />
Ces développem<strong>en</strong>ts font l’obj<strong>et</strong> <strong>de</strong>s chapitres suivants.<br />
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