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Etude et conception de structures de filtrage actif radiofréquence ...

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Chapitre IV : Filtre <strong>actif</strong> LC compensé du premier ordre<br />

III.4.2. Influence <strong>de</strong> la couche polysilicium<br />

L’une <strong>de</strong>s solutions les plus répandues en microélectronique pour réduire le couplage<br />

substrat est d’introduire une couche isolante sous les métallisations. La plupart du temps, il<br />

s’agit d’une couche <strong>de</strong> polysilicium. Le polysilicium dopé est moins conducteur que les<br />

métaux, mais souvent utilisé pour la fabrication <strong>de</strong>s résistances <strong>et</strong> les grilles <strong>de</strong> transistors<br />

MOS.<br />

Sur la figure IV-16, nous illustrons l’utilisation d’un écran <strong>de</strong> polysilicium entre les<br />

lignes <strong>de</strong> l’inductance <strong>et</strong> le substrat.<br />

Figure IV-16 : Inductance avec écran <strong>de</strong> polysilicium<br />

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