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Etude et conception de structures de filtrage actif radiofréquence ...

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Chapitre IV : Filtre <strong>actif</strong> LC compensé du premier ordre<br />

III.4.1. Influence <strong>de</strong> la résistivité du substrat<br />

Pour voir l’influence <strong>de</strong> la résistivité du substrat, nous remplaçons le substrat <strong>de</strong> la<br />

bibliothèque actuelle (QUBIC 4) qui a une résistivité <strong>de</strong> 10 Ω.cm, par le substrat d’une<br />

bibliothèque plus récente (QUBIC 4+) dont la résistivité est 20 fois plus élevée, <strong>de</strong> l’ordre <strong>de</strong><br />

200 Ω.cm. Sur les figures IV-14 <strong>et</strong> IV-15 sont comparées les valeurs <strong>de</strong>s inductances <strong>et</strong> les<br />

facteurs <strong>de</strong> qualité sur <strong>de</strong>ux substrats différents en fonction <strong>de</strong> la fréquence. Les dimensions<br />

<strong>de</strong>s inductances sont les mêmes dans les <strong>de</strong>ux cas.<br />

u<br />

d<br />

In<br />

cta<br />

n c<br />

e (H)<br />

1.3<br />

1.2<br />

1.1<br />

1<br />

0.9<br />

0.8<br />

x 10 -8<br />

Qubic4<br />

Qubic4+<br />

0.7<br />

0.5 1 1.5 2 2.5 3 3.5 4<br />

Fréquence (GHz)<br />

Figure IV-14 : Valeurs <strong>de</strong> l’inductance sur <strong>de</strong>ux substrats <strong>de</strong> résistivités différentes<br />

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