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Etude et conception de structures de filtrage actif radiofréquence ...

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Chapitre IV : Filtre <strong>actif</strong> LC compensé du premier ordre<br />

Sur la figure IV-12 on remarque la dégradation induite par l’augmentation <strong>de</strong> S sur le<br />

facteur <strong>de</strong> qualité <strong>et</strong> la valeur <strong>de</strong> l’inductance. Ce phénomène est justifié par la diminution du<br />

couplage entre segments à 2GHz. En conséquence, gar<strong>de</strong>r une valeur minimale <strong>de</strong> S = 3µm<br />

est le choix le plus avantageux avec le niveau <strong>de</strong> métallisation M6. On ne peut pas diminuer<br />

c<strong>et</strong>te valeur pour <strong>de</strong>s raisons <strong>de</strong> règles <strong>de</strong> <strong>de</strong>ssin, (DRC Design Rule Check sur Ca<strong>de</strong>nce).<br />

F acteur <strong>de</strong> qualit é Q eq<br />

9.4<br />

9.2<br />

9<br />

8.8<br />

3 4 5 6 7 8 9 10<br />

La séparation S entre lignes (um)<br />

x 10 -9<br />

Figure IV-12 : Influence <strong>de</strong> S sur l’inductance <strong>et</strong> le facteur <strong>de</strong> qualité<br />

9<br />

8<br />

u<br />

d<br />

In<br />

cta<br />

n c<br />

q<br />

e<br />

L<br />

e (H)<br />

7<br />

148

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