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Etude et conception de structures de filtrage actif radiofréquence ...

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Chapitre IV : Filtre <strong>actif</strong> LC compensé du premier ordre<br />

La figure IV-10 illustre les phénomènes physiques déjà évoqués sur les lignes<br />

métalliques. Dans le premier cas (condition DC) (a), la distribution est uniforme à l’intérieur<br />

du conducteur. Quand la fréquence augmente (b), l’eff<strong>et</strong> <strong>de</strong> peau concentre le courant AC à la<br />

surface du conducteur.<br />

(a) Condition DC (b) Eff<strong>et</strong> <strong>de</strong> peau (c) Eff<strong>et</strong> <strong>de</strong> proximité<br />

Figure IV-10 : Eff<strong>et</strong> <strong>de</strong> peau <strong>et</strong> <strong>de</strong> proximité<br />

La pénétration à laquelle la <strong>de</strong>nsité <strong>de</strong> courant est affaiblie <strong>de</strong> e-1 est définie comme<br />

l’épaisseur <strong>de</strong> peau δ (IV-16).où µ est la perméabilité magnétique, σ est la résistivité du métal<br />

<strong>et</strong> ω est la fréquence en question.<br />

146<br />

2<br />

δ = (IV-16)<br />

µσω<br />

La technologie QUBIC4 <strong>de</strong> PHILIPS offre cinq niveaux <strong>de</strong> métallisation. Le plus bas<br />

est in<strong>de</strong>xé M1 <strong>et</strong> le plus haut M6. M6 est le niveau le plus intéressant car il est le plus loin du<br />

substrat <strong>et</strong> le moins résistif. La métallisation M6 a une résistivité σ <strong>de</strong> 3,30 x 10 7 (S/m), soit un<br />

δ <strong>de</strong> 1,96 µm à 2 GHz. Lorsque la fréquence varie entre 1 GHz <strong>et</strong> 5 GHz alors δ varie aussi<br />

entre 2,77 µm <strong>et</strong> 1,24 µm comme illustré sur la figure IV-11.

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