Elaboration par projection plasma d'un revêtement céramique sur ...

Chapitre II : Réalisation d’un dépôt céramique par projection plasma – Revue bibliographique
Température supérieure à la température
de transition
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Température inferieure à la température
de transition
Figure B.4-16 : Particules de zircone de 22 à 45 µm projetées sur substrat rugueux
Ra= 6 µm [50].
Cependant, même dans le cas d’un substrat préchauffé au-delà de la température de transition
les particules étalées sur un substrat ont un aspect déchiquetées, les aspérités de surface
contraignant leur étalement.
Le paramètre de rugosité Ra, ne suffit pas pour caractériser l’étalement des particules
projetées sur un substrat rugueux. En effet, un même Ra peut être obtenu pour différentes
topographique de la surface et conduire à des différences dans le degré d’étalement des
particules. Cedelle (2006) et al. [154] ont proposé un paramètre complémentaire Sk
(Skweness), ou paramètre d’asymétrie (ISO 4287-1997). Il décrit la forme de la distribution
d'amplitude. Il s'agit d'une mesure de la symétrie de la variation d'un profil autour de sa ligne
moyenne ; il est défini par B–21 :
+∞
1 3
(B–21) S k = ∫ ( z _ m)
⋅φ
( z)
⋅ dz
3
R
où z est la hauteur du profil, m la hauteur moyenne, Ф(z) la fonction de distribution de hauteur
des profils et Rq la hauteur quadratique moyenne du profil. (cf. Figure B.4-17) :
q
Sk = 0, correspond à un profil symétrique par rapport à la ligne moyenne. Il existe
autant de pics que de creux de part et d’autre de la ligne moyenne.
Sk < 0, correspond à plus grand nombre de creux en dessous de la ligne moyenne que
de pics au dessus.
Sk > 0, correspond à plus grand nombre de pics au dessus de la ligne moyenne que de
creux en dessous.
Une étude sur des substrats en zircone et en acier inoxydable polis avec un Sk initial de 0 a
montré qu’après préchauffage des substrats à la température de transition zircone/acier, les
condensats et les absorbats disparaissent de la surface des substrats et que Sk avait une valeur
−∞