Elaboration par projection plasma d'un revêtement céramique sur ...

Chapitre IV : Développement et optimisation de la sous-couche nanostructurée
composition chimique de l’échantillon au point même de l’interface mais également à sa
proximité. L’étude s’est limitée aux éléments Ni, Cr, Zr, Y et O (cf. Figure D.4-7).
Les résultats mettent en évidence l’évolution de la composition chimique de l’échantillon au
travers de l’interface. On observe que la partie gauche de la cartographie correspond au
substrat métallique et que la partie droite au revêtement de zircone yttriée. La zone du milieu
correspondant à l’interface semble très particulière. En effet, il apparait un composé mixte
réparti de façon non homogène entre le nickel et le chrome. De plus, la présence d’oxygène en
forte concentration sur cette zone laisse penser à la formation d’un ou de plusieurs types
d’oxyde. En effet, il semble que proche du revêtement de zircone yttriée, l’oxyde présent
majoritairement serait un oxyde de chrome.
Cette hypothèse semble être confirmée sur la représentation graphique de l’évolution de la
composition atomique du substrat vers le revêtement (cf. Figure D.4-8). La présence d’oxyde
confirme les résultats de l’analyse XPS de la surface du substrat après préchauffage.
Cette analyse discrédite donc la possibilité d’inter-diffusion comme origine de l’adhérence du
revêtement de zircone yttriée sur le substrat Haynes ® 230.
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