Elaboration par projection plasma d'un revêtement céramique sur ...

Chapitre III : Stratégie expérimentale et moyens utilisés au cours de l’étude
grains constituant la structure, peut également avoir lieu, et est calculée à partir des diamètres
de Féret, correspondant à la distance entre deux tangentes parallèles à des cotés opposés d’un
pore. Cependant, la difficulté de cette analyse réside dans la qualité de l’échantillonnage
effectué et la reproductibilité d’un expérimentateur à un autre. Pour les éléments de petites
tailles, les résultats issus de cette technique, contrairement à des techniques de type USAXS
[187] (Ultra Small Angle X-ray Scattering) ou de micro-tomographie [188], ne sont donc pas
« vrais » mais permettent une étude comparative sur les différents échantillons.
C.5.4. Diffractométrie à rayons X
Les phases cristallines des revêtements plasma, nanostructurés ou microsctructutrés ont été
identifiées à l’aide d’un diffractomètre de rayons X de marque PANalytical. L’appareil utilise
une anticathode en cuivre (λKα1 = 1,05406 Å et λKα2 = 1,54439 Å), un filtre Kβ, un
monochromateur arrière à lame de graphite et est paramétré avec une tension de 45 kV et une
intensité de 40 mA. Les analyses sont réalisées pour les angles 2θ compris entre 10 et 110°
avec un temps de comptage de 1,5 s et un pas de 0,02°.
C.6. Caractérisation des surfaces et des interfaces
C.6.1. Mesure de la rugosité
Le profil de surface est mesurée grâce à un rugosimètre de type Perthometer PGK 120 de
marque MAHR, possédant une pointe diamant MFW 250 de rayon de 2 µm à 90°.
Une série de 10 mesures est effectuée et les différents paramètres de rugosité sont moyennés.
Les paramètres les plus intéressants sont l’écart moyen de rugosité Ra (moyenne arithmétique
de toutes les ordonnées du profil sur la longueur de mesure), la hauteur individuelle de profil
Rt (somme des plus grandes hauteurs de saillies et des plus grandes profondeurs de creux) et
la mesure d’asymétrie Sk.
C.6.2. Microscopie à force atomique : AFM
Le microscope à force atomique AFM (Atomic Force Microscopy) est un microscope à sonde
locale permettant de visualiser la topographie de la surface d’un échantillon en scannant cette
dernière par une pointe très fine.
Le principe l’AFM repose sur l’utilisation des différentes forces d’interaction (forces
d’origines quantique et électromagnétique, forces de capillarité, forces de déformation
élastique, forces d’adhésion, forces de Van der Waals …) entre les atomes de la pointe de
rayon de courbure très faible (typiquement 5 à 20 nm) et les atomes de la surface d’un
substrat. Ces forces sont fonction des paramètres physico-chimiques liés aux matériaux et à
leur environnement et de la distance pointe-échantillon.
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