Elaboration par projection plasma d'un revêtement céramique sur ...
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a.<br />
Chapitre III : Stratégie expérimentale et moyens utilisés au cours de l’étude<br />
Figure C.4-2 : a. Schéma de principe du dispositif DPV-2000, b. principe de<br />
fonctionnement des masques<br />
Pour notre étude, la sonde optique a été alignée avec l’axe de la torche. Puis une étape de<br />
centrage de la sonde <strong>sur</strong> le la zone ou le flux de <strong>par</strong>ticules incandescentes est maximal a été<br />
effectuée afin de déterminer la déviation de jet [91]. En cette position, les valeurs des vitesses<br />
et des températures des <strong>par</strong>ticules sont relevées puis une cartographie en vitesse et<br />
température est dressée <strong>sur</strong> le plan pouvant être décrit <strong>par</strong> la tête de lecture. Les valeurs<br />
obtenues possèdent une incertitude de l’ordre de 5% pour les vitesses et une <strong>sur</strong>estimation de<br />
l’ordre de 100°C pour les températures (avec un seuil de détection compris entre 1400 et<br />
1700°C en fonction de la taille des <strong>par</strong>ticules) [44].<br />
C.4.2.2. Collecte de <strong>par</strong>ticules micrométriques projetées <strong>sur</strong><br />
la couche de zircone yttriée « nanostructurée »<br />
La collecte des <strong>par</strong>ticules s’est déroulée suivant le même mode que celui utilisé pour les<br />
<strong>par</strong>ticules nanométriques. Le débit de poudre été fixé à 5 g/s pour limiter le recouvrement des<br />
<strong>par</strong>ticules. La collecte a été effectuée en <strong>sur</strong>face d’un <strong>revêtement</strong> « optimisé » réalisé <strong>par</strong><br />
<strong>projection</strong> de suspension et d’épaisseur constante (aux alentours de 50 µm).<br />
Cette collecte a permis d’étudier le facteur d’étalement des <strong>par</strong>ticules en fonction des<br />
<strong>par</strong>amètres de <strong>projection</strong>, leur degré de fusion, mais également la température de transition<br />
pour des <strong>par</strong>ticules de zircone micrométriques <strong>sur</strong> une couche de zircone nanostructurée.<br />
C.5. Caractérisation de la microstructure et de<br />
l’architecture des dépôts<br />
L’architecture des dépôts a été observée <strong>par</strong> microscopie optique ou électronique (MEB), <strong>sur</strong><br />
des sections transversales polies ou des fractures transversales. Une analyse des images a été<br />
réalisée afin d’extraire les caractéristiques souhaitées (fis<strong>sur</strong>ation, architecture, taux<br />
d’infondu…).<br />
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b.
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