ETTC'2003 - SEE

2.1.6 Emissions standards 61967 part6 : radiated
emissions in magnetic probe [8]
Ce standard définit une méthode pour mesurer la
composante magnétique en champ proche du rayonnement
électromagnétique émis par le composant. La mesure
utilise une sonde sérigraphiée sur un circuit imprimé 3
couches (figure 7).
2
1, 3
Couche 1 2 3
bottom layer
(layer n)
magnetic probe
top layer
(layer 1)
IC
ground layer for microstrip
(layer n-1)
standardized IC test board
(PCB)
molded fixing block of
magnetic probe
measurement
microstrip line
Figure7 : sonde magnétique
2.2 Mesures de la susceptibilité
space between the
microstrip line and
magnetic probe tip:
1,0 ± 0,1 mm
Le projet de ce standard est référencé sous le numéro
62132. Il est composé de 4 parties :
part1 general and definitions CD 618
part2 direct RF injection CD 658e
part3 conducted susceptibility CD 631
part4 bulk current injection CD524a
2.2.1 Susceptibility standard 62132 part1 : general and
définitions[9]
Le standard 62132 décrit la mesure de la susceptibilité
électromagnétique d’un circuit intégré. En particulier la
partie 1 « general and definitions » décrit les paramètres
communs de test et indique pour chaque test les conditions
de la mesure.
2.2.2 Susceptibility standard 62132 part2 : direct RF
injection [10]
Cette proposition de standard définit une méthode pour
mesurer la susceptibilité par couplage capacitif sur un
composant. La méthode utilise un circuit imprimé test sur
lequel est monté le circuit intégré sous test.
La mesure est réalisée à l’aide de capacité de couplage
appelée « DC block » entre 10 kHz et 1 GHz (figure 8).
C2
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50 Ohm coax
Amplifier
RF
generator
BUS
DC
supply
directivity
coupler
Pfor Prev
RF Power
meters
=
DC
Block
optional:
contro. PC
figure 8 : coupleur capacitif
decoupling
network
DUT
DUT
monitor
2.2.3 Susceptibility standard 62132 part3 : conducted
susceptibility [11]
Ce standard définit une méthode pour mesurer l’immunité
aux perturbations électromagnétiques de mode commun
conduites par un câble. La méthode utilise un circuit
imprimé test sur lequel est monté le circuit intégré sous
test, l’ensemble étant enfermé dans une boîte métallique
appelée « Working Bench Faraday Cage » (WBFC).
Les câbles connectés à la puce présentent une impédance
de mode commun qui se situe autour de 150Ω.
Le dispositif permet de faire des mesures de perturbations
conduites en mode commun sur le composant entre 150
kHz et 1 GHz. (figure9).
RF
s ource
~
T1 S1
22 oh m
50 oh m
Po wer
amplifier
Signal
s ource
RF ge ner ator)*
Matching
network
Ferrite**)
100 ohm
100 ohm
Work Be nch Fa rada y C a ge (WBFC )
T2
~
F
F F
Ferrite**)
100 ohm
Input Supply Ou tput
PCB under test (PUT)
50 ohm)*
Supply
source
dc
50 ohm)*
Time dom ain
analyser (TDA)
Fe rrite**)
*) s hal l b e inte rc hange d a t ea ch por t
**) ferrite impedance >>150 ohm
figure 9 : mesure de susceptibilité avec le banc WBFC