estadÃstica - Facultad de Ciencias Aplicadas a la Industria
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UNIVERSIDAD NACIONAL DE CUYOFACULTAD DE CIENCIAS APLICADAS A LA INDUSTRIAUnidad 7CONTROL DURANTE EL PROCESO DE FABRICACIÓN (variables)Causas asignables y no asignables. Gráficos <strong>de</strong> control. Gráficos <strong>de</strong> control porvariables. Variaciones <strong>de</strong>bidas al muestreo. Cálculo <strong>de</strong> límites <strong>de</strong> control. Gráficos<strong>de</strong> control con valores especificados. Gráficos <strong>de</strong> control sin valoresespecificados.Unidad 8CONTROL DURANTE EL PROCESO DE FABRICACIÓN (atributos)Consi<strong>de</strong>raciones generales sobre los gráficos <strong>de</strong> control. Gráficos <strong>de</strong> control poratributos. Variaciones <strong>de</strong>bidas al muestreo y cálculo <strong>de</strong> límites. Ejemplo <strong>de</strong> gráfico“np”.Unidad 9INSPECCIÓN PARA LA RECEPCIÓNIntroducción al tema. Ninguna inspección. Inspección 100%. Inspección pormuestreo.P<strong>la</strong>nes <strong>de</strong> recepción por atributos y por variables.Unidad 10PRINCIPIOS Y MÉTODOS PARA LA SELECCIÓN DE MUESTRASTerminología. Principios. Muestreo al azar. Muestreo estratificado. Muestreosistemático en etapas.Unidad 11ESTABLECIMIENTO DE PLANES DE MUESTREOCurva característica operativa o característica <strong>de</strong> control. Prácticas comunes enmuestreo para <strong>la</strong> aceptación. Aceptación lote por lote. Construcción <strong>de</strong> <strong>la</strong> curvacaracterística operativa. Porcentaje <strong>de</strong>fectuoso tolerado en el lote (LTPD). Nive<strong>la</strong>ceptable <strong>de</strong> calidad o Nivel <strong>de</strong> fabricación. (AQL). Límite <strong>de</strong>l promedio <strong>de</strong> <strong>la</strong>calidad <strong>de</strong> salida (AOQL). Punto <strong>de</strong> control o calidad <strong>de</strong> indiferencia.Unidad 12SISTEMAS DE MUESTREOP<strong>la</strong>nes porcentuales. Tamaño <strong>de</strong> muestra que hace mínima <strong>la</strong> inspección porpartida.Sistema <strong>de</strong> muestreo simple. Sistema <strong>de</strong> muestreo doble. Sistemas <strong>de</strong> muestreosprogresivos y múltiples.Programa <strong>de</strong> estadística