aplicaciones analiticas de la microbalanza de cristal de cuarzo ...
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Si volvemos a la figura 4.26 podemos observar que al desconectar la fuente externade potencial de manera que la película llegue a su potencial de reposo, los valores deX Lf y R f no se afectan. Dado que el E 1/2 de la cupla redox es de 290 mV, el potencialde reposo alcanzado de 355 mV indica que los grupos rédox en la película se hallanoxidados aproximadamente en un 90%.La invariancia de X Lf y R f durante esta parte del experimento muestran que ambosson función del estado de carga y no de la corriente que circula.Para verificar este comportamiento dependiente del estado de carga, se sometió elelectrodo a un experimento estático en el cual se lo coloca a diferentes potencialesobteniéndose los parámetros X Lf y R f para cada potencial.28002700X LfZ f/ Ω260025002400R f0.35E / V0.300.250 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800t / sFig. 4.28Escalera de potencial aplicada sobre la película de PAA-Os-GOx95
La figura 4.28 muestra los resultados de este experimento. El potencial inicial esde 225 mV vs SCE, de forma que la película está totalmente reducida, y se eleva ensaltos de 20 mV hasta llegar a 345 mV tras lo cual se vuelve al potencial originaltambién en saltos de 20 mV cada uno.Se puede verificar fácilmente que el comportamiento reológico de la película estotalmente reversible y sigue las mismas tendencias observadas en las demásexperiencias.Al oxidar el electrodo, la entrada de solvente provoca una disminución de laviscosidad que causa una caída de X Lf mientras que R f sube.28002700X LfZ f/ Ω260025002400R f.23000.0 0.1 0.2 0.3 0.4 0.5 0.6 0.7 0.8 0.9 1.0x Ox4.29 X Lf y R f en función de la concentración de Os 3+ obtenida deFig.los datos de la Fig. 4.28 aplicando la ecuación de Nernst.La figura 4.29 muestra la dependencia de X Lf y R f al final de cada salto depotencial en función de la fracción molar de Os 3+ , obtenida de la ecuación de Nernst.96
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Si volvemos a <strong>la</strong> figura 4.26 po<strong>de</strong>mos observar que al <strong>de</strong>sconectar <strong>la</strong> fuente externa<strong>de</strong> potencial <strong>de</strong> manera que <strong>la</strong> pelícu<strong>la</strong> llegue a su potencial <strong>de</strong> reposo, los valores <strong>de</strong>X Lf y R f no se afectan. Dado que el E 1/2 <strong>de</strong> <strong>la</strong> cup<strong>la</strong> redox es <strong>de</strong> 290 mV, el potencial<strong>de</strong> reposo alcanzado <strong>de</strong> 355 mV indica que los grupos rédox en <strong>la</strong> pelícu<strong>la</strong> se hal<strong>la</strong>noxidados aproximadamente en un 90%.La invariancia <strong>de</strong> X Lf y R f durante esta parte <strong>de</strong>l experimento muestran que ambosson función <strong>de</strong>l estado <strong>de</strong> carga y no <strong>de</strong> <strong>la</strong> corriente que circu<strong>la</strong>.Para verificar este comportamiento <strong>de</strong>pendiente <strong>de</strong>l estado <strong>de</strong> carga, se sometió elelectrodo a un experimento estático en el cual se lo coloca a diferentes potencialesobteniéndose los parámetros X Lf y R f para cada potencial.28002700X LfZ f/ Ω260025002400R f0.35E / V0.300.250 200 400 600 800 1000 1200 1400 1600 1800t / sFig. 4.28Escalera <strong>de</strong> potencial aplicada sobre <strong>la</strong> pelícu<strong>la</strong> <strong>de</strong> PAA-Os-GOx95
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