que es máxima en el centro y mínima en los bor<strong>de</strong>s <strong>de</strong>l electrodo. [59] Generalmente,los residuos <strong>de</strong> evaporación presentan zonas concentricas en <strong>la</strong>s que el espesor <strong>de</strong>lmaterial es mayor (o menor) en el centro <strong>de</strong> <strong>la</strong> gota original, <strong>de</strong>creciendo (o creciendo)hacia <strong>la</strong> periferia. Si no se dispone <strong>de</strong> datos <strong>de</strong> espesor medidos in<strong>de</strong>pendientemente,por ejemplo mediante un profilómetro, es imposible obtener resultadoscuantitativamente exactos con <strong>la</strong> MCQ. Sin embargo, los ór<strong>de</strong>nes <strong>de</strong> magnitud, asícomo los valores re<strong>la</strong>tivos a lo <strong>la</strong>rgo <strong>de</strong> una experiencia llevada a cabo con un<strong>de</strong>terminado <strong>de</strong>pósito son válidos, dado que los errores afectan primariamente elfactor <strong>de</strong> sensibilidad <strong>de</strong>l sistema.Esta fuente <strong>de</strong> error pue<strong>de</strong> atenuarse efectuando <strong>la</strong> <strong>de</strong>posición por otros métodos,como electro<strong>de</strong>posición o spin-coating, que permiten obtener una distribución máshomogénea <strong>de</strong>l material. Es importante notar que cuando <strong>la</strong>s inhomogeneida<strong>de</strong>sestán distribuidas aleatoriamente y no presentan simetría radial, se obtienen valores <strong>de</strong>masa o espesor correcto, <strong>la</strong>mentablemente, este caso <strong>de</strong> inhomogeneidad no es muycomún.La inhomogeneidad en <strong>la</strong> superficie <strong>de</strong>l <strong>cuarzo</strong> no es <strong>la</strong> única a consi<strong>de</strong>rar. Cuandose perturba electroquímicamente una pelícu<strong>la</strong> suficientemente gruesa, pue<strong>de</strong>nmodificarse los valores <strong>de</strong> espesor, <strong>de</strong>nsidad y módulos en un eje perpendicu<strong>la</strong>r a <strong>la</strong>superficie <strong>de</strong>l <strong>cristal</strong>. Esta inhomogeneidad es más dificil <strong>de</strong> tratar y su soluciónactual consiste en dividir virtualmente el material en un número finito <strong>de</strong> capasapi<strong>la</strong>das y resolver el sistema <strong>de</strong> n capas, cada una <strong>de</strong> el<strong>la</strong>s teniendo su reología ymasa constante. [60]Otra c<strong>la</strong>se <strong>de</strong> inhomogeneida<strong>de</strong>s es <strong>la</strong> producida por <strong>la</strong> rugosidad <strong>de</strong>l material enestudio o <strong>la</strong> rugosidad propia <strong>de</strong>l <strong>cristal</strong>. Urbakh y Daikhin [57] han estudiadominuciosamente el problema <strong>de</strong> un resonador piezoeléctrico rugoso en contacto conun líquido, y encontraron que tanto <strong>la</strong> frecuencia <strong>de</strong> resonancia como <strong>la</strong> resistenciaequivalente cambian con <strong>la</strong> rugosidad <strong>de</strong> <strong>la</strong> superficie. Sin embargo, no existe aún untratamiento que contemple <strong>la</strong> funcionalidad con <strong>la</strong> rugosidad cuando el <strong>cristal</strong> seencuentra en contacto con un medio viscoelástico.131
Otro problema que se presenta al usar el mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> Martin ciertos materialesconsiste en <strong>la</strong> porosidad <strong>de</strong> ciertos materiales. El mo<strong>de</strong>lo predice correctamente elcomportamiento <strong>de</strong> los parámetros cuando el material en estudio es homogéneo anivel microscópico, pero existen materiales con estuctura <strong>de</strong> tipo esponja, <strong>de</strong> altaporosidad, en los cuales se pue<strong>de</strong> introducir solvente en intersticios <strong>de</strong> dimensionespor <strong>de</strong>bajo <strong>de</strong>l micrón. Estos materiales pue<strong>de</strong>n consi<strong>de</strong>rarse como una red sólida <strong>de</strong>alto valor <strong>de</strong> módulo (<strong>la</strong> matriz rígida), rellena con un material <strong>de</strong> baja viscosidad (elsolvente, iones, etc), <strong>de</strong> manera que el mo<strong>de</strong>lo que hemos <strong>de</strong>scripto no se aplica. Enestos materiales, <strong>la</strong> resistencia <strong>de</strong> pérdidas R sube <strong>de</strong> forma aproximadamente linealdurante el aumento <strong>de</strong> espesor, como ocurre en <strong>la</strong> electro<strong>de</strong>posición <strong>de</strong> polianilinacon contraiones pequeños [61] La polianilina tiene una estructura <strong>de</strong> tipo esponjosobastante abierto, <strong>de</strong> una forma característica que recuerda un arbusto <strong>de</strong> muérdago) .El mo<strong>de</strong>lo <strong>de</strong> Martin es a<strong>de</strong>cuado únicamente cuando <strong>la</strong> primera capa <strong>de</strong> material,en contacto íntimo con el <strong>cristal</strong>, es arrastrada solidariamente con éste (non-slipcondition). En algunos sistemas, <strong>la</strong> unión física entre el material en estudio y el <strong>cristal</strong>no es suficientemente fuerte como para soportar <strong>la</strong> aceleración <strong>de</strong> <strong>la</strong> superficie <strong>de</strong>l<strong>cristal</strong>, que está en el ór<strong>de</strong>n <strong>de</strong> 10 6 g , [62] por lo que <strong>la</strong> primera capa <strong>de</strong> material pue<strong>de</strong>resba<strong>la</strong>r, produciendo una menor sensibilidad <strong>de</strong> <strong>la</strong> MCQ, que no "ve" todo elmaterial. Esto se ha <strong>de</strong>tectado en <strong>cristal</strong>es recubiertos con si<strong>la</strong>nos <strong>de</strong> diferentehidrofobicidad, [63] o al cambiar los electrodos <strong>de</strong> oro, poco hidrofílico, por aluminio,<strong>de</strong> mayor hidrofilicidad al presentar una capa <strong>de</strong> Al 2 O 3 en contacto con solucionesacuosas.Sin embargo, <strong>la</strong> <strong>de</strong>pen<strong>de</strong>ncia <strong>de</strong> los parámetros equivalentes con el <strong>de</strong>slizamientono es aún muy c<strong>la</strong>ra, principalmente <strong>de</strong>bido a que <strong>la</strong> mayoría <strong>de</strong> los datos <strong>de</strong> que sedisponen provienen <strong>de</strong> experimentos en los cuales no se ha tenido en cuenta <strong>la</strong>rugosidad <strong>de</strong> los <strong>cristal</strong>es empleados, <strong>de</strong> manera que muchos resultados no soncomparables entre si.132
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UNIVERSIDAD DE BUENOS AIRESFACULTAD
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una forma muy precisa, de forma de
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864ωB / mS20-2-41 / Rω s= (LC) -1
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ω s=1L C0 C y ωp= ωs1+ C 0Si C o
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utilizar la analogía mecánico-el
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2.1.1 Capa rígida de espesor finit
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100008000Z f/ Ω60004000R f= X Lf20
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esto muestra un aumento de R f con
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En los espesores intermedios el com
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15001000R f/ Ω5000500 1000 1500 20
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ϕ Ζ fπ −G'= + arctan4 G"Ec. 2.
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Cuando (Z 2 /Z 1 ) tan (k 1 d 1 ) t
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Las curvas señaladas como “no ad
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en que Z 2 = ρG = ( + )1ρ2 1 j G"
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u otro metal similar. Se ve clarame
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capítulo 3Experimental3.1 - Métod
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La señal sinusoidal Vi se aplica a
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medir se pierde la información de
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El problema de la medición de resi
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Análogamente al caso anterior, la
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La necesidad de uso de un instrumen
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Medición defunción detransferenci
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Salvo indicación en contrario los
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capítulo 4Resultados Experimentale
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1000Límite de KanazawaR f/ Ω50000
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de vapor, que permite variar la tem
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Para el punto experimental de menor
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jeringa controlada por computadora
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80G "|G| / 10 3 Nm -2605G '00 50 10
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newtoniano. Para pH bajos, en cambi
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8280G"G / 10 3 Nm -2784G'200 20 40
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la cual se gelifica el hidrogel sob
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De la misma forma, una vez formada
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128 µg.cm -2 . Esta masa, tomando
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