Espectroscopia gamma - Instituto Balseiro - CNEA

Informe Nº3: Espectroscopia gamma – Mediciones Nucleares 2007 – Instituto Balseiro
La principal diferencia entre ambos es la resolución obtenida en el espectro. El ancho de los
picos usando un detector de Ge(Li) es mucho menor que usando un detector de NaI, lo que
significa que su resolución es mejor. Ésta es una ventaja de los semiconductores sobre los
centelladores. Sin embargo, la eficiencia del NaI es mayor que la del Ge(Li), debido al mayor
número de cuentas que efectuaron los mismos. Ésta es uno de las ventajas de los
centelladores. En la figura se observan, además de los picos característicos del 60 Co, el talón
Compton. En el espectro medido con NaI se observa además el pico de backscattering, debido
a que durante la medición con el mismo se colocó un ladrillo de plomo detrás de la fuente.
Usando éste espectro se calibró el detector de Ge(Li) usando los métodos analizados
anteriormente y se midió el espectro de altura de pulsos para una fuente de AmBe (figura 13).
En la misma se observan los picos correspondientes a las diferentes energías de los gamma de
la fuente, los picos correspondientes a single escape, double escape y los talones Compton.
Pico de 495
KeV debido
a 241Am
Single
escape
Fotopico
en 1075
KeV
Double
escape
Talón
Compton
FIGURA 13. Espectro de altura de pulsos de una fuente de Am-Be. La escala se calibró con la fuente de
60 Co.
Finalmente se midió el espectro de altura de pulsos del fondo (figura 14). En el mismo se
usaron 2048 canales, y se midió durante 200000 s. Se indican algunos de los picos principales.
Para caracterizarlos se identificaron los picos más intensos, el de 208Tl y el de 40K. Con estos
dos picos se realizó una primera calibración del instrumento, usando el método 1 descrito
anteriormente. Una vez hecha la calibración se identificaron los picos mediante valores
tabulados. Esto permitió hacer una segunda calibración utilizando más puntos.
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